High-resolution X-ray flash radiography of Ti characteristic lines with multilayer Kirkpatrick–Baez microscope at the Shenguang-II Update laser facility

Shengzhen Yi; Feng Zhang; Qiushi Huang; Lai Wei; Yuqiu Gu; Zhanshan Wang

doi:10.1017/hpl.2021.30

[1] S. Atzeni, J. Meyer-ter-Vehn. International Series of Monographs on Physics(2004).

[2] B. Han, F. Wang, D. Salzmann, J. Zhong, G. Zhao. High Power Laser Sci. Eng, 9, e9(2021).

[3] L. A. Pickworth, B. A. Hammel, V. A. Smalyuk, A. G. MacPhee, H. A. Scott, H. F. Robey, O. L. Landen, M. A. Barrios, S. P. Regan, M. B. Schneider, M. Hoppe, T. Konut, D. Holunga, C. Walters, B. Haid, M. Dayton. Phys. Rev. Lett, 117, 035001(2016).

[4] E. Brambrink, S. Baton, M. Koenig, R. Yurchak, N. Bidaut, B. Albertazzi, J. E. Cross, G. Gregori, A. Rigby, E. Falize, A. Pelka, F. Kroll, S. Pikuz, Y. Sakawa, N. Ozaki, C. Kuranz, M. Manuel, C. Li, P. Tzeferacos, D. Lamb. High Power Laser Sci. Eng, 4, e30(2016).

[5] A. Morace, L. Fedeli, D. Batani, S. Baton, F. N. Beg, S. Hulin, L. C. Jarrott, A. Margarit, M. Nakai, M. Nakatsutsumi. Phys. Plasmas, 21, 102712(2014).

[6] H. Sawada, S. Lee, T. Shiroto, H. Nagatomo, Y. Arikawa, H. Nishimura, T. Ueda, K. Shigemor, A. Sunahar, N. Ohnishi. Appl. Phys. Lett, 108, 254101(2016).

[7] C. Stoeckl, T. Filkins, R. Jungquist, C. Mileham, N. R. Pereira, S. P. Regan, M. J. Shoup, W. Theobald. Rev. Sci. Instrum, 89, 10G124(2018).

[8] L. C. Jarrott, M. S. Wei, C. McGuffey, A. A. Solodov, W. Theobald, B. Qiao, C. Stoeckl, R. Betti, H. Chen, J. Delettrez, T. Döppner, E. M. Giraldez, V. Y. Glebov, H. Habara, T. Iwawaki, M. H. Key, R. W. Luo, F. J. Marshall, H. S. McLean, C. Mileham, P. K. Patel, J. J. Santos, H. Sawada, R. B. Stephens, T. Yabuuchi, F. N. Beg. Nat. Phys, 12, 499(2016).

[9] W. Theobald, A. A. Solodov, C. Stoeckl, K. S. Anderson, F. N. Beg, R. Epstein, G. Fiksel, E. M. Giraldez, V. Y. Glebov, H. Habara. Nat. Commun, 5, 5785(2014).

[10] P. Kirkpatrick, A. V. Baez. J. Opt. Soc. Am, 38, 766(1948).

[11] L. A. Pickworth, J. Ayers, P. Bell, N. F. Brejnholt, J. G. Buscho, D. Bradley, T. Decker, S. Hau-Riege, J. Kilkenny, T. McCarville, T. Pardini, J. Vogel, C. Walton. Rev. Sci. Instrum, 87, 11E316(2016).

[12] F. J. Marshall, R. E. Bahr, V. N. Goncharov, V. Y. Glebov, B. Peng, S. P. Regan, T. C. Sangster, C. Stoeckl. Rev. Sci. Instrum, 88, 093702(2017).

[13] S. Z. Yi, Z. Zhang, Q. S. Huang, Z. Zhang, Z. S. Wang, L. Wei, D. X. Liu, L. F. Cao, Y. Q. Gu. Rev. Sci. Instrum, 89, 036105(2018).

[14] W. TheobaldOMEGA Laser Facility Users' Group Workshop. , in ().(2009).

[15] S. Z. Yi, B. Z. Mu, X. Wang, J. T. Zhu, L. Jiang, Z. S. Wang, P. F. He. Chin. Opt. Lett, 12, 013401(2014).

[16] L. Ren, P. Shao, D. Zhao, Y. Zhou, Z. Cai, N. Hua, Z. Jiao, L. Xia, Z. Qiao, R. Wu, L. Ji, D. Liu, L. Ju, W. Pan, Q. Li, Q. Ye, M. Sun, J. Zhu, Z. Lin. High Power Laser Sci. Eng, 6, e10(2018).