• Chinese Optics Letters
  • Vol. 16, Issue 2, 020006 (2018)
You Zheng, Changyong Lan, Zhifei Zhou, Xiaoying Hu, Tianying He, and Chun Li*
Author Affiliations
  • State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, and School of Optoelectronic Information, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, China
  • show less
    DOI: 10.3788/COL201816.020006 Cite this Article Set citation alerts
    You Zheng, Changyong Lan, Zhifei Zhou, Xiaoying Hu, Tianying He, Chun Li. Layer-number determination of two-dimensional materials by optical characterization[J]. Chinese Optics Letters, 2018, 16(2): 020006 Copy Citation Text show less
    References

    [1] K. Novoselov, D. Jiang, F. Schedin, T. Booth, V. Khotkevich, S. Morozov, A. Geim. Proc. Natl. Acad. Sci. USA, 102, 10451(2005).

    [2] D. Jariwala, V. K. Sangwan, L. J. Lauhon, T. J. Marks, M. C. Hersam. ACS Nano, 8, 1102(2014).

    [3] F. Xia, H. Wang, D. Xiao, M. Dubey, A. Ramasubramaniam. Nat. Photonics, 8, 899(2014).

    [4] L. Zheng, L. Zhongzhu, S. Guozhen. J. Semicond., 37, 015001(2016).

    [5] S. Y. Zhou, G. H. Gweon, A. V. Fedorov, P. N. First, W. A. D. Heer, D. H. Lee, F. Guinea, A. H. C. Neto, A. Lanzara. Nat. Mater., 6, 770(2007).

    [6] J. Qiao, X. Kong, Z. X. Hu, F. Yang, W. Ji. Nat. Commun., 5, 4475(2014).

    [7] K. S. Novoselov, A. K. Geim, S. V. Morozov, D. Jiang, Y. Zhang, S. V. Dubonos, I. V. Grigorieva, A. A. Firsov. Science, 306, 666(2004).

    [8] C. Berger, Z. Song, T. Li, X. Li, A. Y. Ogbazghi, R. Feng, Z. Dai, A. N. Marchenkov, E. H. Conrad, P. N. First. J. Phys. Chem. B, 108, 19912(2004).

    [9] R. Rosei, S. Modesti, F. Sette, C. Quaresima, A. Savoia, P. Perfetti. Phys. Rev. B, 29, 3416(1984).

    [10] J. N. Coleman, M. Lotya, A. O’Neill, S. D. Bergin, P. J. King, U. Khan, K. Young, A. Gaucher, S. De, R. J. Smith. Science, 331, 568(2011).

    [11] X. L. Li, W. P. Han, J. B. Wu, X. F. Qiao, J. Zhang, P. H. Tan. Adv. Funct. Mater., 27, 1604468(2017).

    [12] M. Benameur, B. Radisavljevic, J. Heron, S. Sahoo, H. Berger, A. Kis. Nanotechnology, 22, 125706(2011).

    [13] A. K. Geim, K. S. Novoselov. Nat. Mater., 6, 183(2007).

    [14] P. Blake, E. Hill, A. Castro Neto, K. Novoselov, D. Jiang, R. Yang, T. Booth, A. Geim. Appl. Phys. Lett., 91, 063124(2007).

    [15] L. Gao, W. Ren, F. Li, H.-M. Cheng. ACS Nano, 2, 1625(2008).

    [16] G. Teo, H. Wang, Y. Wu, Z. Guo, J. Zhang, Z. Ni, Z. Shen. J. Appl. Phys., 103, 124302(2008).

    [17] G. Rubio-Bollinger, R. Guerrero, D. P. de Lara, J. Quereda, L. Vaquero-Garzon, N. Agraït, R. Bratschitsch, A. Castellanos-Gomez. Electronics, 4, 847(2015).

    [18] M. Shadbolt. J. Mod. Opt., 15, 303(1968).

    [19] Z. H. Ni, H. M. Wang, J. Kasim, H. M. Fan, T. Yu, Y. H. Wu, Y. P. Feng, Z. X. Shen. Nano Lett., 7, 2758(2007).

    [20] Y.-C. Lee, Y.-C. Tseng, H.-L. Chen. ACS Photonics, 4, 93(2017).

    [21] C. Casiraghi, A. Hartschuh, E. Lidorikis, H. Qian, H. Harutyunyan, T. Gokus, K. Novoselov, A. Ferrari. Nano Lett., 7, 2711(2007).

    [22] I. Jung, M. Pelton, R. Piner, D. A. Dikin, S. Stankovich, S. Watcharotone, M. Hausner, R. S. Ruoff. Nano Lett., 7, 3569(2007).

    [23] L. Liao, J. Bai, Y. Qu, Y. Huang, X. Duan. Nanotechnology, 21, 015705(2010).

    [24] E. Simsek, B. Mukherjee. Nanotechnology, 26, 455701(2015).

    [25] A. C. Ferrari, J. C. Meyer, V. Scardaci, C. Casiraghi, M. Lazzeri, F. Mauri, S. Piscanec, D. Jiang, K. S. Novoselov, S. Roth, A. K. Geim. Phys. Rev. Lett., 97, 187401(2006).

    [26] M. A. Pimenta, G. Dresselhaus, M. S. Dresselhaus, L. G. Cançado, A. Jorio, R. Saito. Phys. Chem. Chem. Phys., 9, 1276(2007).

    [27] Y. Y. Wang, Z. H. Ni, T. Yu, Z. X. Shen, H. M. Wang, Y. H. Wu, W. Chen, A. T. S. Wee. J. Phys. Chem. C, 112, 10637(2008).

    [28] M. Wall. The Raman spectroscopy of graphene and the determination of layer thickness(2011).

    [29] K. F. Mak, C. Lee, J. Hone, J. Shan, T. F. Heinz. Phys. Rev. Lett., 105, 136805(2010).

    [30] R. Ganatra, Q. Zhang. ACS Nano, 8, 4074(2014).

    [31] W. Lu, H. Nan, J. Hong, Y. Chen, C. Zhu, Z. Liang, X. Ma, Z. Ni, C. Jin, Z. Zhang. Nano Res, 7, 853(2014).

    [32] J. Wu, N. Mao, L. Xie, H. Xu, J. Zhang. Angew. Chem., 54, 2366(2015).

    [33] X. Wang, A. M. Jones, K. L. Seyler, V. Tran, Y. Jia, H. Zhao, H. Wang, L. Yang, X. Xu, F. Xia. Nat. Nanotechnol., 10, 517(2014).

    [34] H. Li, J. Wu, Z. Yin, H. Zhang. Acc. Chem. Res., 47, 1067(2014).

    [35] H. Li, Q. Zhang, C. C. R. Yap, B. K. Tay, T. H. T. Edwin, A. Olivier, D. Baillargeat. Adv. Funct. Mater., 22, 1385(2012).

    [36] S. Baroni, A. Corso, S. de Gironcoli, P. Giannozzi, C. Cavazzoni, G. Ballabio, S. Scandolo, G. Chiarotti, P. Focher, A. Pasquarello. Plane-wave self-consistent field home page(2008).

    [37] A. Splendiani, L. Sun, Y. Zhang, T. Li, J. Kim, C.-Y. Chim, G. Galli, F. Wang. Nano Lett., 10, 1271(2010).

    [38] J. Zheng, X. Yan, Z. Lu, H. Qiu, G. Xu, X. Zhou, P. Wang, X. Pan, K. Liu, L. Jiao. Adv. Mater., 29, 1604540(2017).

    [39] K. Wang, J. Wang, J. Fan, M. Lotya, A. O’Neill, D. Fox, Y. Feng, X. Zhang, B. Jiang, Q. Zhao. ACS Nano, 7, 9260(2013).

    [40] D. Hanlon, C. Backes, E. Doherty, C. S. Cucinotta, N. C. Berner, C. Boland, K. Lee, A. Harvey, P. Lynch, Z. Gholamvand. Sci. Rep., 6, 8563(2015).

    [41] A. F. Young, P. Kim. Nat. Phys., 5, 222(2009).

    [42] H. Zhang, S. Virally, Q. Bao, L. K. Ping, S. Massar, N. Godbout, P. Kockaert. Opt. Lett., 37, 1856(2012).

    [43] Y. Li, Y. Rao, K. F. Mak, Y. You, S. Wang, C. R. Dean, T. F. Heinz. Nano Lett., 13, 3329(2013).

    [44] R. Woodward, R. Murray, C. Phelan, R. de Oliveira, T. Runcorn, E. Kelleher, S. Li, E. de Oliveira, G. Fechine, G. Eda. 2D Mater., 4, 011006(2016).

    [45] N. G. R. Broderick, R. T. Bratfalean, T. M. Monro, D. J. Richardson, C. M. de Sterke. J. Opt. Soc. Am. B, 19, 2263(2002).

    [46] A. Autere, C. R. Ryder, A. Saynatjoki, L. Karvonen, B. Amirsolaimani, R. A. Norwood, N. Peyghambarian, K. Kieu, H. Lipsanen, M. C. Hersam. J. Phys. Chem. Lett., 8, 1343(2017).

    [47] A. Saynatjoki, L. Karvonen, H. Rostami, A. Autere, S. Mehravar, A. Lombardo, R. A. Norwood, T. Hasan, N. Peyghambarian, H. Lipsanen, K. Kieu, A. C. Ferrari, M. Polini, Z. Sun. Nat. Commun., 8(2017).

    [48] H. Rostami, R. Roldán, E. Cappelluti, R. Asgari, F. Guinea. Phys. Rev. B, 92, 195402(2015).

    [49] H. Rostami, M. Polini. Phys. Rev. B, 93, 161411(2016).

    [50] L. Karvonen, A. Säynätjoki, M. J. Huttunen, A. Autere, B. Amirsolaimani, S. Li, R. A. Norwood, N. Peyghambarian, H. Lipsanen, G. Eda. Nat. Commun., 8, 15714(2017).

    [51] W. Li, S. Moon, M. Wojcik, K. Xu. Nano Lett., 16, 5027(2016).

    [52] K. P. Dhakal, D. L. Duong, J. Lee, H. Nam, M. Kim, M. Kan, Y. H. Lee, J. Kim. Nanoscale, 6, 13028(2014).

    [53] R. Frisenda, Y. Niu, P. Gant, A. J. Molina-Mendoza, R. Schmidt, R. Bratschitsch, J. Liu, L. Fu, D. Dumcenco, A. Kis. J. Phys. D, 50, 074002(2017).

    [54] A. Castellanos-Gomez, J. Quereda, V. D. M. Hp, N. Agraït, G. Rubio-Bollinger. Nanotechnology, 27, 115705(2016).

    CLP Journals

    [1] Tianhong Tang, Fang Zhang, Mengxia Wang, Zhengping Wang, Xinguang Xu. Two-dimensional tellurene nanosheets as saturable absorber of passively Q-switched Nd:YAG solid-state laser[J]. Chinese Optics Letters, 2020, 18(4): 041403

    Data from CrossRef

    [1] Bo Guo, Quan‐lan Xiao, Shi‐hao Wang, Han Zhang. 2D Layered Materials: Synthesis, Nonlinear Optical Properties, and Device Applications. Laser & Photonics Reviews, 1800327(2019).

    You Zheng, Changyong Lan, Zhifei Zhou, Xiaoying Hu, Tianying He, Chun Li. Layer-number determination of two-dimensional materials by optical characterization[J]. Chinese Optics Letters, 2018, 16(2): 020006
    Download Citation