[1] J. P. Li, M. Fang, H. B. He, J. D. Shao, Z. X. Fan, Z. Y. Li. Thin Solid Films, 526, 70(2012).

[2] M. Fang, Z. X. Fan, J. B. Huang. Chin. J. Comput. Phys., 6, 017(2006).

[3] D. L. Pan, S. M. Xiong, Y. D. Zhang. J. Appl. Opt., 1, 008(2001).

[4] F. Villa, A. Martinez, L. E. Regalado. Appl. Opt., 39, 1602(2000).

[5] G. I. Abzalova, R. S. Sabirov, A. V. Mikhailov. J. Opt. Technol., 72, 799(2005).

[6] C. Liu, C. Guo, M. Kong, B. Li. Chin. Opt. Lett., 11, S10213(2013).

[7] Y. L. Jin, Y. Qiu, H. Zhao, C. K. Zu. J. Vac. Sci. Technol., 4, 336(2014).

[8] W. Wu, J. Z. Wang, Y. Q. Xiong, D. S. Wang, Y. D. Feng. J. Vac. Sci. Technol., 4, 320(2014).

[9] L. Xu, J. Lv. J. Tianjin Technol., 15, 102(1999).

[10] M. Gross, S. Dligatch, A. Chtanov. Appl. Opt., 50, C316(2011).

[11] J. F. Tang. Modern Optical Thin Film Technology(2006).

[12] C. Guo, M. D. Kong, C. D. Liu, B. D. Li. Acta Opt. Sin., 02, 291(2013).