[1] D. J. Trummer, R. J. Foley, G. S. Shaw. Third International Conference on Solid State Lasers for Application to Inertial Confinement Fusion, 363(1999).

[2] R. A. Zacharias, N. R. Beer, E. S. Bliss, S. C. Burkhart, S. J. Cohen, S. B. Sutton, R. L. Van Atta, S. E. Winters, J. T. Salmon, M. R. Latta, C. J. Stolz, D. C. Pigg, T. J. Arnold. Opt. Eng., 43, 2873(2004).

[3] J. Qiao, A. Kalb, M. J. Guardalben, G. King, D. Canning, J. H. Kelly. Opt. Express, 15, 9562(2007).

[4] W. H. Williams, J. M. Auerbach, M. A. Henesian. Proc. SPIE, 3264, 93(1998).

[5] W. H. Williams, J. M. Auerbach, M. A. Henesian, J. K. Lawson, P. A. Renard, R. A. Sacks. Proc. SPIE, 3492, 22(1998).

[6] B. M. Van Wonterghem, J. T. Salmon, R. W. Wilcox. Inertial Confinement Fusion Quarterly Report, 5, 4251(1994).

[7] V. I. Bespalov, V. I. Talanov. JETP Lett., 3, 307(1996).

[8] T. J. Brennan, D. J. Wittich. Opt. Eng., 52, 071416(2013).

[9] A. R. Saad, J. B. Martin. Appl. Opt., 52, 5523(2013).

[10] J. Bromage, S.-W. Bahk, D. Irwin, J. Kwiatkowski, A. Pruyne, M. Millecchia, M. Moore, J. D. Zuegel. Opt. Express, 16, 16561(2008).

[11] C. Ai, R. Knowiden, J. Lamb. Proc. SPIE, 3134, 47(1997).

[12] T. Ling, D. Liu, L. Sun, Y. Yang, Z. Cheng. Proc. SPIE, 8838, 88380J(2013).

[13] D. Malacara. Optical Shop Testing(2007).

[14] D. Liu, Y. Yang, J. Weng, X. Zhang, B. Chen, X. Qin. Opt. Commun., 275, 173(2007).

[15] C. R. Wolfe, J. D. Downie, J. K. Lawson. Proc. SPIE, 2870, 553(1996).

[16] D. M. Aikens, C. R. Wolfe, J. K. Lawson. Proc. SPIE, 2576, 281(1995).

[17] M. Bray. Third International Conference on Solid State Lasers for Application to Inertial Confinement Fusion, 946(1998).

[18] S. Wen, Q. Shi, H. Yan, Y. Zhang, C. Yang, J. Wang. High Power Laser Particle Beams, 24, 2296(2012).

[19] J. Thunen, O. Kwon. Proc. SPIE, 351, 19(1982).

[20] W. Chow, G. Lawrence. Opt. Lett., 8, 468(1983).

[21] M. Otsubo, K. Okada, J. Tsujiuchi. Opt. Eng., 33, 608(1994).

[22] S. Chen, S. Li, Y. Dai, Z. Zheng. Appl. Opt., 46, 3504(2007).

[23] J. Fleig, P. Dumas, P. E. Murphy, G. W. Forbes. Proc. SPIE, 5188, 296(2003).

[24] D. E. Vandenberg, W. D. Humbel, A. Wertheimer. Opt. Eng., 32, 1951(1993).

[25] L. Yuan, Z. Wu. Proc. SPIE, 7654, 765402(2010).

[26] H. Song, G. Vdovin, R. Fraanje, G. Schitter, M. Verhaegen. Opt. Lett., 34, 61(2009).

[27] B. Xuan, J. Li, S. Song, J. Xie.

[28] J. R. Fienup. Opt. Lett., 3, 27(1978).

[29] J. M. Zuo, I. Vartanyants, M. Gao, R. Zhang, L. A. Nagahara. Science, 300, 1419(2003).

[30] G. J. Williams, H. M. Quiney, B. B. Dhal, C. Q. Tran, K. A. Nugent, A. G. Peele, D. Paterson, M. D. de Jonge. Phys. Rev. Lett., 97, 025506(2006).

[31] J. M. Rodenburg, H. M. L. Faulkner. Appl. Phys. Lett., 85, 4795(2004).

[32] U. Weierstall, Q. Chen, J. C. H. Spence, M. R. Howells, M. Isaacson, R. R. Panepucci. Ultramicroscopy, 90, 171(2002).

[33] H. N. Chapman. Nat. Mater., 8, 299(2009).

[34] F. Hüe, J. M. Rodenburg, A. M. Maiden, F. Sweeney, P. A. Midgley. Phys. Rev. B, 82, 121415(2010).

[35] M. J. Humphry, B. Kraus, A. C. Hurst, A. M. Maiden, J. M. Rodenburg. Nat. Commun., 3, 730(2012).

[36] E. Osherovich, Y. Shechtman, A. Szameit, P. Sidorenko, E. Bullkich, S. Gazit, S. Shoham, E. B. Kley, M. Zibulevsky, I. Yavneh, Y. C. Eldar, O. Cohen, M. Segev. Precision Imaging and Sensing (CF3C), San Jose, CA, USA(2012).

[37] A. Szameit, Y. Shechtman, E. Osherovich, E. Bullkich, P. Sidorenko, H. Dana, S. Steiner, E. B. Kley, S. Gazit, T. Cohen-Hyams, S. Shoham, M. Zibulevsky, I. Yavneh, Y. C. Eldar, O. Cohen, M. Segev. Nat. Mater., 11, 455(2012).

[38] S. Matsuoka, K. Yamakawa. J. Opt. Soc. Am. B, 17, 663(2000).

[39] G. R. Brady, J. R. Fienup. Optical Fabrication and Testing, Rochester, NY, USA(2006).

[40] T. J. Kessler, J. Bunkenburg, H. Huang, A. Kozlov, D. D. Meyerhofer. Opt. Lett., 29, 635(2004).

[41] S. W. Bahk, J. Bromage, J. D. Zuegel, J. R. Fienup. Conference on Lasers and Electro-Optics, San Jose, CA, USA(2008).

[42] S. W. Bahk, J. Bromage, I. A. Begishev, C. Mileham, C. Stoeckl, M. Storm, J. D. Zuegel. Appl. Opt., 47, 4589(2008).

[43] B. E. Kruschwitz, S. W. Bahk, J. Bromage, D. Irwin, M. D. Moore, L. J. Waxer, J. D. Zuegel, J. H. Kelly. Conference on Lasers and Electro-Optics, San Jose, CA, USA, JThE113(2010).

[44] B. E. Kruschwitz, S. W. Bahk, J. Bromage, D. Irwin. Opt. Express, 20, 20874(2012).

[45] H. M. L. Faulkner, J. M. Rodenburg. Ultramicroscopy, 103, 153(2005).

[46] H. Y. Wang, C. Liu, S. P. Veetil. Opt. Express, 22, 2159(2014).

[47] C. Haynam, P. Wegner, J. Auerbach, M. Bowers, S. Dixit, G. Erbert, G. Heestand, M. Henesian, M. Hermann, K. Jancaitis. Appl. Opt., 46, 3276(2007).

[48] J. Neauport, X. Ribeyre, J. Daurios, D. Valla, M. Lavergne, V. Beau, L. Videau. Appl. Opt., 42, 2377(2003).

[49] F. Zhang, J. M. Rodenburg. Phys. Rev. B, 82, 121104(2010).