• High Power Laser Science and Engineering
  • Vol. 11, Issue 3, 03000e39 (2023)
B. N. Hoffman, N. Savidis, and S. G. Demos*
Author Affiliations
  • Laboratory for Laser Energetics, University of Rochester, Rochester, New York, USA
  • show less
    DOI: 10.1017/hpl.2023.34 Cite this Article Set citation alerts
    B. N. Hoffman, N. Savidis, S. G. Demos. Monitoring and characterization of particle contamination in the pulse compression chamber of the OMEGA EP laser system[J]. High Power Laser Science and Engineering, 2023, 11(3): 03000e39 Copy Citation Text show less
    References

    [1] N. Bloembergen. Appl. Opt., 12, 661(1973).

    [2] A. A. Manenkov. Opt. Eng., 53, 010901(2014).

    [3] C. J. Stolz, M. D. Feit, T. V. Pistor. Appl. Opt., 45, 1594(2006).

    [4] X. Cheng, J. Zhang, T. Ding, Z. Wei, H. Li, Z. Wang. Light Sci. Appl., 2, e80(2013).

    [5] I. A. Fersman, L. D. Khazov. Sov. J. Opt. Technol., 37, 627(1971).

    [6] M. D. Feit, A. M. Rubenchik, D. R. Faux, R. A. Riddle, A. B. Shapiro, D. C. Eder, B. M. Penetrante, D. Milam, F. Y. Genin, M. R. Kozlowski. Proc. SPIE, 2966, 417(1997).

    [7] F. Y. Génin, M. R. Kozlowski, R. Brusasco. Proc. SPIE, 3047, 978(1997).

    [8] F. Y. Génin, K. Michlitsch, J. Furr, M. R. Kozlowski, P. A. Krulevitch. Proc. SPIE, 2966, 126(1997).

    [9] D. M. Kane, D. R. Halfpenny. J. Appl. Phys., 87, 4548(2000).

    [10] F. Y. Génin, M. D. Feit, M. R. Kozlowski, A. M. Rubenchik, A. Salleo, J. Yoshiyama. Appl. Opt., 39, 3654(2000).

    [11] J. Honig, M. A. Norton, W. G. Hollingsworth, E. E. Donohue, M. A. Johnson. Proc. SPIE, 5647, 129(2005).

    [12] M. A. Norton, C. J. Stolz, E. E. Donohue, W. G. Hollingsworth, K. Listiyo, J. A. Pryatel, R. P. Hackel. Proc. SPIE, 5991, 59910O(2006).

    [13] S. Palmier, J. L. Rullier, J. Capoulade, J.-Y. Natoli. Appl. Opt., 47, 1164(2008).

    [14] S. Palmier, S. Garcia, J.-L. Rullier. Opt. Eng., 47, 084203(2008).

    [15] Y. Ye, X. Yuan, X. Xiang, X. Cheng, X. Miao. Optik, 123, 1056(2012).

    [16] T. Jitsuno, H. Murakami, K. Kato, E. Sato, K. Mikami, S. Motokoshi, N. Miyanaga, H. Azechi. Proc. SPIE, 8786, 87860B(2013).

    [17] K. E. Gushwa, C. I. Torrie. Proc. SPIE, 9237, 923702(2014).

    [18] R. N. Raman, S. G. Demos, N. Shen, E. Feigenbaum, R. A. Negres, S. Elhadj, A. M. Rubenchik, M. J. Matthews. Opt. Express, 24, 2634(2016).

    [19] M. J. Matthews, N. Shen, J. Honig, J. D. Bude, A. M. Rubenchik. J. Opt. Soc. Am. B, 30, 3233(2013).

    [20] S. R. Qiu, M. A. Norton, R. N. Raman, A. M. Rubenchik, C. D. Boley, A. Rigatti, P. B. Mirkarimi, C. J. Stolz, M. J. Matthews. Appl. Opt., 54, 8607(2015).

    [21] C. D. Harris, N. Shen, A. M. Rubenchik, S. G. Demos, M. J. Matthews. Opt. Lett., 40, 5212(2015).

    [22] S. G. Demos, R. A. Negres, R. N. Raman, N. Shen, A. M. Rubenchik, M. J. Matthews. Opt. Express, 24, 7792(2016).

    [23] S. R. Qiu, M. A. Norton, J. Honig, A. M. Rubenchik, C. D. Boley, A. Rigatti, C. J. Stolz, M. J. Matthews. Opt. Eng., 56, 011108(2016).

    [24] S. G. Demos, J. C. Lambropoulos, R. A. Negres, M. J. Matthews, S. R. Qiu. Opt. Express, 27, 23515(2019).

    [25] K. R. P. Kafka, S. G. Demos. Opt. Lett., 44, 1844(2019).

    [26] K. R. P. Kafka, B. N. Hoffman, H. Huang, S. G. Demos. Opt. Eng., 60, 031009(2020).

    [27] H. Huang, K. R. P. Kafka, S. G. Demos. Opt. Express, 29, 27031(2021).

    [28] H. Wang, H. Qi, J. Zhao, B. Wang, Y. Chai, Z. Yu, J. Shao. Appl. Phys. Lett., 108, 141603(2016).

    [29] X. Ling, S. Liu, X. Liu. Phys. Scr., 94, 125707(2019).

    [30] J. Perrière, C. Boulmer-Leborgne, R. Benzerga, S. Tricot. J. Phys. D, 40, 7069(2007).

    [31] B. R. Tull, J. E. Carey, M. A. Sheehy, C. Friend, E. Mazur. Appl. Phys. A, 83, 341(2006).

    [32] B. Tan, K. Venkatakrishnan. Opt. Express, 17, 1064(2006).

    [33] S. G. Demos, R. A. Negres, R. N. Raman, M. D. Feit, K. R. Manes, A. M. Rubenchik. Optica, 2, 765(2015).

    [34] S. G. Demos, R. A. Negres. Opt. Eng., 56, 011016(2016).

    [35] C. W. Carr, J. Bude, P. E. Miller, T. Parham, P. Whitman, M. Monticelli, R. Raman, D. Cross, B. Welday, F. Ravizza, T. Suratwala, J. Davis, M. Fischer, R. Hawley, H. Lee, M. Matthews, M. Norton, M. Nostrand, D. Vanblarcom, S. Sommer. Proc. SPIE, 10447, 1044702(2017).

    [36] D. Ensor, R. Donovan, B. Locke. J. Environ. Sci., 30, 44(2006).

    [37] W. Whyte, K. Agricola, M. Derks. Clean Air Contain. Rev., 25, 4(2016).

    [38] International Organization for Standardization, “ISO 14644-1:2015 Cleanrooms and associated controlled environments –Part 1: Classification of air cleanliness by particle concentration,” ().(2015).

    [39] W. J. Siekhaus, J. H. Kinney, D. Milam, L. L. Chase. Appl. Phys. A, 39, 163(1986).

    [40] J. T. Dickinson, S. C. Langford, J. J. Shin, D. L. Doering. Phys. Rev. Lett., 73, 2630(1994).

    [41] G. C. Tyrrell, T. H. York, L. G. Coccia, I. W. Boyd. Appl. Surf. Sci., 769(1996).

    [42] S. G. Demos, C. W. Carr, D. A. Cross. Opt. Lett., 42, 2643(2017).

    [43] J. Andrew, R. H. Burrell, C. W. Jones, A. E. Leatherland, A. D. Sibley. Proc. SPIE, 10447, 1044703(2017).

    [44] A. A. Kozlov, S. G. Demos, D. Canning, B. N. Hoffman, B. E. Kruschwitz, A. L. Rigatti, N. Savidis, L. J. Waxer. Opt. Eng., 60, 031008(2021).

    [45] J. H. Kelly, L. J. Waxer, V. Bagnoud, I. A. Begishev, J. Bromage, B. E. Kruschwitz, T. J. Kessler, S. J. Loucks, D. N. Maywar, R. L. McCrory, D. D. Meyerhofer, S. F. B. Morse, J. B. Oliver, A. L. Rigatti, A. W. Schmid, C. Stoeckl, S. Dalton, L. Folnsbee, M. J. Guardalben, R. Jungquist, J. Puth, M. J. Shoup, D. Weiner, J. D. Zuegel. J. Phys. IV France, 133, 75(2006).

    [46] J. Qiao, A. Kalb, T. Nguyen, J. Bunkenburg, D. Canning, J. H. Kelly. Opt. Lett., 33, 1684(2008).

    [47] A. L. Rigatti. Proc. SPIE, 5647, 136(2005).

    [48] M. Sozet, S. Bouillet, J. Berthelot, J. Neauport, L. Lamaignère, L. Gallais. Opt. Express, 25, 25767(2017).

    [49] M. Sozet, J. Neauport, E. Lavastre, N. Roquin, L. Gallais, L. Lamaignère. Opt. Lett., 41, 2342(2016).

    B. N. Hoffman, N. Savidis, S. G. Demos. Monitoring and characterization of particle contamination in the pulse compression chamber of the OMEGA EP laser system[J]. High Power Laser Science and Engineering, 2023, 11(3): 03000e39
    Download Citation