[1] S. Chen, S. Ma, Z. Wang. Chin. Opt. Lett., 14, 123401(2016).
[3] J. F. Seely, G. E. Holland, J. V. Giasson. Appl. Opt., 32, 6294(1993).
[4] J. F. Seely, G. E. Holland, T. Boehly, G. Pien, D. Bradley. Appl. Opt., 37, 1140(1998).
[7] S. Herbert, A. Maryasov, L. Juschkin. Proc. SPIE, 7545, 75450O(2010).
[8] F. Barkusky, C. Peth, K. Mann, T. Feigl, N. Kaiser. Rev. Sci. Instrum., 76, 105102(2005).
[9] F. Barkusky, C. Peth, A. Bayer, K. Mann. J. Appl. Phys., 101, 124908(2007).
[10] F. Barkusky, A. Bayer, C. Peth, K. Mann. Proc. SPIE, 6879, 68791M(2008).
[12] J. A. Trail, R. L. Byer. Opt. Lett., 14, 539(1989).
[13] J. Voss. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom., 84, 29(1997).
[15] A. M. Hawryluk, L. G. Seppala. J. Vac. Sci. Technol. B, 6, 2162(1988).
[16] H. Kinoshita, K. Kurihara, Y. Ishii, Y. Torii. J. Vac. Sci. Technol. B, 7, 1648(1989).
[18] X. Wang, B. Mu, L. Jiang, J. Zhu, S. Yi, Z. Wang, P. He. Rev. Sci. Instrum., 82, 123702(2011).
[19] I. A. Artioukov, K. M. Krymski. Opt. Eng., 39, 2163(2000).
[21] K. Murakami, T. Oshino, H. Nakamura, M. Ohtani, H. Nagata. Appl. Opt., 32, 7057(1993).
[23] Z. Wang, J. Cao, B. Chen, Y. Ma, B. Chen, J. Zhang, Z. Wang, H. Gao, J. Lv, X. Chen. Acta Opt. Sin., 16, 531(1996).
[26] X. Wang, B. Mu, Y. Huang, J. Zhu, Z. Wang, P. He. Opt. Precis. Eng., 8, 19(2011).
[28]
[29] M. Tan, H. Li, Q. Huang, H. Zhou, T. Huo, X. Wang, J. Zhu. Chin. Opt. Lett., 9, 023102(2011).