• Chinese Optics Letters
  • Vol. 15, Issue 4, 043401 (2017)
Shenghao Chen, Xin Wang, Qiushi Huang, Shuang Ma, and Zhanshan Wang*
Author Affiliations
  • Key Laboratory of Advanced Micro-Structured Materials MOE, Institute of Precision Optical Engineering, School of Physics Science and Engineering, Tongji University, Shanghai 200092, China
  • show less
    DOI: 10.3788/COL201715.043401 Cite this Article Set citation alerts
    Shenghao Chen, Xin Wang, Qiushi Huang, Shuang Ma, Zhanshan Wang. 13.5  nm Schwarzschild microscope with high magnification and high resolution[J]. Chinese Optics Letters, 2017, 15(4): 043401 Copy Citation Text show less
    References

    [1] S. Chen, S. Ma, Z. Wang. Chin. Opt. Lett., 14, 123401(2016).

    [2] B. Feng, B. Deng, Y. Ren, Y. Wang, G. Du, H. Tan, Y. Xue, T. Xiao. Chin. Opt. Lett., 14, 093401(2016).

    [3] J. F. Seely, G. E. Holland, J. V. Giasson. Appl. Opt., 32, 6294(1993).

    [4] J. F. Seely, G. E. Holland, T. Boehly, G. Pien, D. Bradley. Appl. Opt., 37, 1140(1998).

    [5] K. Hamamoto, Y. Tanaka, S. Y. Lee, N. Hosokawa, N. Sakaya, M. Hosoya, T. Shoki, T. Watanabe, H. Kinoshita. J. Vac. Sci. Technol. B, 23, 2852(2005).

    [6] H. Kinoshita, K. Hamamoto, N. Sakaya, M. Hosoya, T. Watanabe. Jpn. J. Appl. Phys., 46, 6113(2007).

    [7] S. Herbert, A. Maryasov, L. Juschkin. Proc. SPIE, 7545, 75450O(2010).

    [8] F. Barkusky, C. Peth, K. Mann, T. Feigl, N. Kaiser. Rev. Sci. Instrum., 76, 105102(2005).

    [9] F. Barkusky, C. Peth, A. Bayer, K. Mann. J. Appl. Phys., 101, 124908(2007).

    [10] F. Barkusky, A. Bayer, C. Peth, K. Mann. Proc. SPIE, 6879, 68791M(2008).

    [11] M. Richardon, K. Shinohara, K. A. Tanaka, Y. Kinjo, N. Ikeda, M. Kado. Proc. SPIE, 1741, 133(1992).

    [12] J. A. Trail, R. L. Byer. Opt. Lett., 14, 539(1989).

    [13] J. Voss. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom., 84, 29(1997).

    [14] Y. Iketaki, Y. Horikawa, S. Mochimaru, K. Nagai, T. Kiyokura, M. Oshima, A. Yagishita. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom., 80, 353(1996).

    [15] A. M. Hawryluk, L. G. Seppala. J. Vac. Sci. Technol. B, 6, 2162(1988).

    [16] H. Kinoshita, K. Kurihara, Y. Ishii, Y. Torii. J. Vac. Sci. Technol. B, 7, 1648(1989).

    [17] J. E. Bjorkhoim, J. Bokor, L. Eichner, R. R. Freeman, J. Gregus, T. E. Jewell, W. M. Mansfield, A. A. Mac Doweli, E. L. Raab, W. T. Silfvast, L. H. Szeto, D. M. Tennant, W. K. Waskiewicz, D. L. White, D. L. Windt, O. R. Wood, J. H. Bruning. J. Vac. Sci. Technol. B., 8, 1509(1990).

    [18] X. Wang, B. Mu, L. Jiang, J. Zhu, S. Yi, Z. Wang, P. He. Rev. Sci. Instrum., 82, 123702(2011).

    [19] I. A. Artioukov, K. M. Krymski. Opt. Eng., 39, 2163(2000).

    [20] X. Wang, Y. Huang, B. Mu, S. Yi, L. Jiang, J. Zhu, Z. Wang, H. Liu, L. Cao, Y. Gu, P. He. Optik, 123, 947(2012).

    [21] K. Murakami, T. Oshino, H. Nakamura, M. Ohtani, H. Nagata. Appl. Opt., 32, 7057(1993).

    [22] I. A. Artioukov, A. V. Vinogradov, V. E. Asadchikov, Yu. S. Kas’yanov, R. V. Serovet, A. I. Fedorenko, V. V. Kondratenko, S. A. Yulin. Opt. Lett., 20, 2451(1995).

    [23] Z. Wang, J. Cao, B. Chen, Y. Ma, B. Chen, J. Zhang, Z. Wang, H. Gao, J. Lv, X. Chen. Acta Opt. Sin., 16, 531(1996).

    [24] Th. Foltyn, K. Bergmann, S. Braun, P. Gawlitza, A. Leson, W. Neff, K. Walter. Proc. SPIE, 5533, 37(2004).

    [25] K. Takase, Y. Kamaji, N. Sakagami, T. Iguchi, M. Tada, Y. Yamaguchi, Y. Fukushima, T. Harada, T. Watanabe, H. Kinoshita. Jpn. J. Appl. Phys., 49, 06GD07(2010).

    [26] X. Wang, B. Mu, Y. Huang, J. Zhu, Z. Wang, P. He. Opt. Precis. Eng., 8, 19(2011).

    [27] N. I. Chkhalo, A. E. Pestov, N. N. Salashchenko, A. V. Sherbakov, E. V. Skorokhodov, M. V. Svechnikov. Rev. Sci. Instrum., 86, 063701(2015).

    [28]

    [29] M. Tan, H. Li, Q. Huang, H. Zhou, T. Huo, X. Wang, J. Zhu. Chin. Opt. Lett., 9, 023102(2011).

    Shenghao Chen, Xin Wang, Qiushi Huang, Shuang Ma, Zhanshan Wang. 13.5  nm Schwarzschild microscope with high magnification and high resolution[J]. Chinese Optics Letters, 2017, 15(4): 043401
    Download Citation