[1] N. O. Perez-Arancibia, J. S. Gibson, T.-C. Tsao. IEEE Trans. Control Syst. Technol., 20, 31(2012).

[2] Z. Qingkun, P. Ben-Tzvi, F. Dapeng, A. A. Goldenberg. 2008 International Workshop on Robotic and Sensors Environments, 144(2008).

[3] X. Wei, L. Yanbing, L. Shuang. 2010 2nd International Conference on Information Engineering and Computer Science (ICIECS), 4(2010).

[4] P. K. Orzechowski, N. Y. Chen, J. S. Gibson, T. C. Tsao. IEEE Trans. Control Syst. Technol., 16, 255(2008).

[5] T. Kanai, A. Suda, S. Bohman, M. Kaku, S. Yamaguchi, K. Midorikawa. Appl. Phys. Lett., 92, 061106(2008).

[6] J. Bao, L. Huang, A. Zeng, B. Ren, B. Yang, X. Peng, X. Hu, H. Huang. Chin. J. Lasers, 39, 0908004(2012).

[7] J. Wang, L. H. Huang, L. Y. Hou, G. J. He, B. Q. Ren, A. J. Zeng, H. J. Huang. Proc. SPIE, 9046, 13(2013).

[8] J. Wang, L. Huang, L. Hou, G. He, Q. Song, H. Huang. Chin. Opt. Lett., 12, 081405(2014).

[9] C. G. Chen, R. K. Heilmann, C. Joo, P. T. Konkola, G. S. Pati, M. L. Schattenburg. J. Vac. Sci. Technol. B Microelectron. Nanometer Struct., 20, 3071(2002).

[10] R. A. Hardin, Y. Liu, C. Long, A. Aleksandrov, W. Blokland. Opt. Express, 19, 2874(2011).