[1] C. Miao, J. C. Lambropoulos, S. D. Jacobs. Appl. Opt., 49, 1951(2010).

[2] T. Hull, P. Hartmann, A. R. Clarkson, J. M. Barentine, R. Jedamzik, T. Westerhoff. Proc. SPIE, 7739, 773901(2010).

[3] J. H. Burge, S. Benjamin, D. Caywood, C. Noble, M. Novak, C. Oh, R. Parks, B. Smith, P. Su, M. Valente, C. Zhao. Proc. SPIE, 7426, 742601(2009).

[4] J. S. Johnson, K. Grobsky, D. J. Bray. Proc. SPIE, 4771, 243(2002).

[5] C. Song, Y. Dai, X. Peng, S. Li, F. Shi. Proc. SPIE, 7282, 728201(2009).

[6] C. Miao, S. N. Shafrir, J. C. Lambropoulos, J. Mici, S. D. Jacobs. Appl. Opt., 48, 2585(2009).

[7] F. Piche, A. R. Clarkson. International Optical Design Conference/Optical Fabrication and Testing(2010).

[8] A. B. Shorey, S. D. Jacobs, W. I. Kordonski, R. F. Gans. Appl. Opt., 40, 20(2001).

[9] C. Song, Y. Dai, X. Peng. Appl. Opt., 49, 3676(2010).

[10] J. E. DeGroote, A. E. Marino, J. P. Wilson, A. L. Bishop, J. C. Lambropoulos, S. D. Jacobs. Appl. Opt., 46, 7927(2007).