[1] B. S. Goldstein, G. F. Dalrymple. Proc. IEEE, 55, 181(1967).
[2] W. Koechner. IEEE Trans. Aerosp. Electron. Syst., AES-4, 81(1968).
[3] H. Lamela, E. Garcia. IECON, 98, 1290(1998).
[4] M. C. Amann, T. Bosch, M. Lescure, R. Myllyla. Opt. Eng., 40, 10(2001).
[5] F. Yang, X. Zhang, Y. He, W. Chen. Chin. Opt. Lett., 12, 082801(2014).
[6] Z. Tian, Z. Cui, L. Zhang, T. Xu, Y. Zhang, S. Fu. Chin. Opt. Lett., 12, 060015(2014).
[7] M. A. Hofton, J. B. Minster, J. B. Blair. IEEE Trans. Geosci. Remote Sens., 38, 1989(2000).
[10] D. Kao, M. Kramer, A. Luo, J. Dungan, A. Pang. Carto. J., 42, 35(2005).
[12] A. M. Wallace, G. S. Buller, A. C. Walker. Comput. Control Eng. J., 12, 157(2001).
[13] A. M. Wallace, G. J. Gibson. IEEE Trans. Pattern Anal. Mach. Intell., 29, 2170(2007).
[14] W. Yin, W. He, G. Gu, Q. Chen. Appl. Opt., 53, 6963(2014).
[15] D. X. Geng, W. Wang, P. F. Du, M. L. Gong. Appl. Opt., 54, 6260(2015).
[16] S. Pellegrini, G. Buller, J. Smith, A. Wallace, S. Cova. Meas. Sci. Technol., 11, 712(2000).