[1] S. C. West, S. H. Bailey, J. H. Burge, B. Cuerden, J. Hagen, H. M. Martin, M. T. Tuell. Appl. Opt., 49, 3522(2010).

[2] P. Su, R. E. Parks, L. R. Wang, R. P. Angel, J. H. Burge. Appl. Opt., 49, 4404(2010).

[3] J. G. Thunen, O. Y. Kwon. Soc. Photo-Opt. Instrum. Eng., 351, 19(1983).

[4] H. S. Yang, Y. W. Lee, J. H. Lee, J. B. Song, H. Y. Lee, I. W. Lee. Proc. SPIE, 5638, 154(2005).

[5] D. R. Neal, P. Pulaski, T. D. Raymond, D. A. Neal, Q. Wang, U. Griesmann. Proc. SPIE, 5162, 129(2003).

[6] D. R. Neal, R. J. Copland, D. A. Neal, D. M. Topa, P. Riera. Proc. SPIE, 5523, 243(2004).

[7] M. Gai, D. Busonero. Proc. SPIE, 8442, 84421O(2012).

[8] B. C. Platt. J. Refractive Surg., 17, 573(2001).

[9] D. J. Lee, M. C. Roggemann, B. M. Welsh, E. R. Crosby. Appl. Opt., 36, 9186(1997).

[10] R. A. Gonsalves, R. Childlaw. Proc. SPIE, 207, 32(1979).

[11] R. G. Paxman, T. J. Schulz, J. R. Fienup. J. Opt. Soc. Am., 9, 1072(1992).