[1] Z. Huang, K. Kang, L. Zhang, Z. Chen, F. Ding, Z. Wang, Q. Fang. Phys. Rev. A, 79, 013815(2009).

[2] J. Miao, T. Ishikawa, B. Johnson, E. H. Anderson, B. Lai, K. O. Hodgson. Phys. Rev. Lett., 89, 0883031(2002).

[3] B. E. Allman, P. J. McMahon, J. B. Tiller, K. A. Nugent, D. Paganin, A. Barty. J. Opt. Soc. Am. A, 17, 1732(2000).

[4] C. David, J. Bruder, T. Rohbeck, C. Grünzweig, C. Kottler, A. Diaz, O. Bunk, F. Pfeiffer. Microelectron. Eng., 84, 1172(2007).

[5] H. Liu, Y. Ren, H. Guo, Y. Xue, H. Xie, T. Xiao, X. Wu. Chin. Opt. Lett., 10, 121101(2012).

[6] F. Devia, G. Milano, G. Tanda. Exp. Therm. Fluid Sci., 8, 1(1994).

[7] E. Gaviola. J. Opt. Soc. Am., 26, 163(1936).

[8] L. Joannes, F. Dubois, J. Legros. Appl. Opt., 42, 5046(2003).

[9] F. Zernike. Phys. Zeitschr., 36, 848(1935).

[10] K. Nagayama. J. Phys. Soc. Jpn., 73, 2725(2004).

[11] R. Danev, K. Nagayama. Ultramicroscopy, 88, 243(2001).

[12] U. Neuhäusler, G. Schneider, W. Ludwig, M. A. Meyer, E. Zschech, D. Hambach. J. Phys. D: Appl. Phys., 36, A79(2003).

[13] C. Holzner, M. Feser, S. Vogt, B. Hornberger, S. Baine, C. Jacobsen. Nat. Phys., 6, 883(2010).

[14] N. Watanabe, T. Sasaya, Y. Imai, S. Iwata, K. Zama, S. Aoki. AIP Conf. Proc., 2003, 313(2011).

[15] J. Choi, Y. Park. Appl. Phys. Exp., 5, 042503(2012).

[16] N. Watanabe, J. Hashizume, M. Goto, M Yamaguchi, T. Tsujiuura, S. Aoki. J. Phys. Conf. Ser., 463, 012011(2013).

[17] P. Hawkes. Advances in Imaging and Electron Physics, 138(2005).