[1] L. Li, Z. Wang, F. Pei, X. Wang. Chin. Opt. Lett., 11, S21102(2013).

[2] P. de Groot, L. Deck. Opt. Lett., 18, 1462(1993).

[3] F. Chen, G. M. Brown, M. Song. Opt. Eng., 39, 10(2000).

[4] Z. Zhao, J. Wu, Y. Su, N. Liang, H. Duan. Chin. Opt. Lett., 12, 091101(2014).

[5] X. Yu, Y. Ho, L. Tan, H. Huang, H. Kwok. J. Disp. Technol., 3, 295(2007).

[6] V. Couture, N. Martin, S. Roy. Int. J. Comp. Vis., 108, 204(2014).

[7] Y. Fu, J. Yang, Z. Wang, H. Wu. Chin. Opt. Lett., 12, 121101(2014).

[8] A. Wiegmann, H. Wagner, R. Kowarschik. Opt. Express, 14, 7692(2006).

[9] M. Schaffer, M. Grosse, R. Kowarschik. Appl. Opt., 49, 3622(2010).

[10] J. Davis, R. Ramamoorthi, S. Rusinkiewicz. IEEE Comp. Soc. Conf. Comp. Vis. Pattern Recognit., 2, 359(2003).

[11] A. Fusiello, E. Trucco, A. Verri. Mach. Vis. Appl., 12, 16(2000).

[12] K. Liu, C. Zhou, S. Wei, S. Wang, X. Fan, J. Ma. Appl. Opt., 53, 6083(2014).