[1] G. Binnig, C. F. Quate, and Ch. Gerber, Phys. Rev. Lett. 56, 930 (1986).
[2] G. Meyer and N. M. Amer, Appl. Phys. Lett. 53, 2400 (1988).
[3] G. Meyer and N. M. Amer, Appl. Phys. Lett. 56, 2100 (1990).
[4] K. O. van der Werf, C. A. J. Putman, B. G. de Grooth, F. B. Segerink, E. H. Schipper, N. F. van Hulst, and J. Greve, Rev. Sci. Instrum. 64, 2892 (1993).
[5] P. K. Hansma, B. Drake, D. Grigg, C. B. Prater, F. Yashar, G. Gurley, V. Elings, S. Feinstein, and R. lal, J. Appl. Phys. 76, 796 (1994).
[6] C. B. Prater, J. Massie, D. A. Grigg, V. B. Elings, P. K. Hansma, and B. Drake, “Scanning stylus atomic force microscope with cantilever tracking and optical access” U.S. Patent 5463897 (1995).
[7] K. Nakano, Rev. Sci. Instrum. 71, 137 (2000).
[8] J. Kwon, J. Hong, Y. Kim, D. Lee, K. Lee, S. Lee, and S. Park, Rev. Sci. Instrum. 74, 4378 (2003).
[9] D. Zhang, H. Zhang, and X. Lin, Microsc. Res. Tech. 64, 223 (2004).
[10] G. Dai, F. Pohlenz, H. Danzebrink, M. Xu, K. Hasche, and G. Wilkening, Rev. Sci. Instrum. 75, 962 (2004).
[11] D. Zhang, H. Zhang, and X. Lin, Rev. Sci. Instrum. 76, 053705 (2005).
[12] H. Zhang, D. Zhang, and Y. He, Microsc. Res. Tech. 66, 126 (2005).
