[1] J. D. Trolinger, Opt. Eng. 14, 383 (1975).

[2] M. Adams, T. Kreis, and W. Juptner, Proc. SPIE 3823, 38 (1999).

[3] V. Kebbel, M. Adams, H. J. Hartmann, and W. Juptner, Meas. Sci. Technol. 10, 893 (1999).

[4] S. Murata and N. Yasuda, Opt. Laser Technol. 32, 567 (2000).

[5] R. B. Owen and A. A. Zozulya, Opt. Eng. 39, 2187 (2000).

[6] C. B. Lefebvre, S. Coetmellec, D. Lebrun, and C. Ozkul, Opt. Laser Eng. 33, 409 (2000).

[7] S. Coetmellec, C. B. Lefebvre, D. Lebrun, and C. Ozkul, Meas. Sci. Technol. 12, 1392 (2001).

[8] H. J. Kreuzer, M. J. Jericho, I. A. Meinertzhagen, and W. Xu, J. Phy.: Condens. Matter 13, 10729 (2001).

[9] Q. N. Lu, Y. M. Zhang, B. Z. Ge, H. Y. Zhao, W. G. Luo, and P. Qiao, Proc. SPIE 4929, 481 (2002).

[10] B. Z. Ge, Q. N. Lu, Y. M. Zhang, H. Y. Zhao, W. G. Luo, and P. Qiao, Proc. ISTP 3, 451 (2002).

[11] I. Yamaguchi, J. Kato, S. Ohta, and J. Mizuno, Appl. Opt. 40, 6177 (2001).

[12] W. Xu, M. H. Jericho, A. Meinertzhagen, and H. J. Kreuzer, Appl. Opt. 41, 5367 (2002).