[1] E. M. Birger, G. V. Moskvitin, A. N. Polyakov, V. E. Arkhipov. Weld. Int., 25, 234(2011).
[2] R. Cottam, M. Brandt. Phys. Procedia, 12, 323(2011).
[3] D. Douay, F. Daniere, R. Fabbro, L. Sabatier. Proc. SPIE, 2789, 202(1996).
[4] T. Ishide, S. Tsubota, M. Nayama, Y. Shimokusu, T. Nagashima, K. Okimura. Proc. SPIE, 3888, 543(2000).
[5] M. Sparkes, M. Gross, S. Celotto, T. Zhang, W. O’Neill. Proc. ICALEO, 2006, 197(2006).
[6] A. Riveiro, F. Quintero, F. Lusquiños, J. Pou, M. Pérez-Amor. J. Laser Appl., 20, 230(2008).
[7] X. Z. Zhang, S. S. Xie, Q. Ye, Z. L. Zhan. Chin. Opt. Lett., 5, 235(2007).
[8] J. R. Cook, J. R. Albertine. Proc. SPIE, 2988, 264(1997).
[9] J. Shwartz, G. T. Wilson, J. M. Avidor. Proc. SPIE, 4632, 10(2002).
[10] M. J. Lavan, J. J. Wachs. Proc. SPIE, 8187, 818704(2011).
[11] B. Wattellier, J. Fuchs, J. P. Zou, K. Abdeli, C. Haefner, H. Pépin. Rev. Sci. Instrum., 75, 5186(2004).
[12] A. Kudryashov, A. Alexandrov, A. Rukosuev, V. Samarkin, P. Galarneau, S. Turbide, F. Châteauneuf. Appl. Opt., 54, 4352(2015).
[13] L. C. Sun, T. H. Liu, X. Fu, Y. D. Guo, X. J. Wang, C. F. Shao, Y. M. Zheng, C. Sun, S. B. Lin, L. Huang. Chin. Opt. Lett., 17, 051403(2019).
[14] L. C. Sun, Y. D. Guo, C. F. Shao, Y. Li, Y. M. Zheng, C. Sun, X. J. Wang, L. Huang. Opt. Lett., 43, 4160(2018).
[15] G. D. Goodno, H. Komine, S. J. McNaught, S. B. Weiss, S. Redmond, W. Long, R. Simpson, E. C. Cheung, D. Howland, P. Epp, M. Weber, M. McClellan, J. Sollee, H. Injeyan. Opt. Lett., 31, 1247(2006).
[16] Z. Z. Chen, Y. T. Xu, Y. D. Guo, B. S. Wang, J. Xu, J. L. Xu, H. W. Gao, L. Yuan, H. T. Yuan, Y. Y. Lin, Y. S. Xiao, Y. Bo, Q. J. Peng, W. Q. Lei, D. F. Cui, Z. Y. Xu. Appl. Opt., 54, 5011(2015).
[17] L. Xu, Y. C. Wu, Y. L. Du, D. Wang, X. C. An, M. Li, T. J. Zhou, J. L. Shang, J. T. Wang, Z. W. Liu, L. Ou, N. Zhao, R. J. Xiang, L. X. Tong, H. H. Lin, Q. S. Gao, Y. H. Lu, K. Zhang, C. Tang. Opt. Express, 26, 14592(2018).
[18] D. Wang, Y. L. Du, Y. C. Wu, L. Xu, X. C. An, L. Q. Cao, M. Li, J. T. Wang, J. L. Shang, T. J. Zhou, L. X. Tong, Q. S. Gao, K. Zhang, C. Tang, R. H. Zhu. Opt. Lett., 43, 3838(2018).
[19] J. Eggleston, T. Kane, K. Kuhn, J. Unternahrer, R. Byer. IEEE J. Quantum Electron., 20, 289(1984).
[20] H. C. Miller. Opt. Express, 20, 28819(2012).
