[1] V. Aranchuk, A. Lal, C. Hess, J. M. Sabatier. Opt. Eng., 45, 104302(2006).

[2] P. Castellini, N. Paone, E. P. Tomasini. Opt. Lasers Eng., 25, 227(1996).

[3] J. H. Shang, Y. He, D. Liu, W. B. Chen. Lasers & Electro-Optics & the Pacific Rim Conference on Lasers and Electro-Optics, 389(2009).

[4] S. J. Rothberg, M. S. Allen, P. Castellini, D. Di Maio, J. J. J. Dirckx, D. J. Ewins, B. J. Halkon, P. Muyshondt, N. Paone, T. Ryan, H. Steger, E. P. Tomasini, S. Vanlanduit, J. F. Vignola. Opt. Lasers Eng., 99, 11(2017).

[5] S. Donati, M. Norgia. IEEE J. Sel. Top. Quant. Electron., 20, 6900108(2014).

[6] J. R. Rzasa, K. Cho, C. C. Davis. Appl. Opt., 54, 6230(2015).

[7] P. Feneyrou, L. Leviandier, J. Minet, G. Pillet, A. Martin, D. Dolfi, J. P. Schlotterbeck, P. Rondeau, X. Lacondemine, A. Rieu, T. Midavaine. Appl. Opt., 56, 9663(2017).

[8] P. Feneyrou, L. Leviandier, J. Minet, G. Pillet, A. Martin, D. Dolfi, J. P. Schlotterbeck, P. Rondeau, X. Lacondemine, A. Rieu, T. Midavaine. Appl. Opt., 56, 9676(2017).

[9] C. A. Hill, M. Harris, K. D. Ridley, E. Jakeman, P. Lutzmann. Appl. Opt., 42, 1091(2003).

[10] L. Yarovoi, G. Siegmund. Meas. Sci. Technol., 15, 2150(2004).

[11] G. Siegmund, 7098, 70980Y(2008).