[1] C. Y. Chao, W. Fung, and L. J. Guo, IEEE J. Sel. Topics Quantum Electron. 12, 134 (2006).
[2] J. G. Lim, S. S. Lee, and K. D. Lee, Opt. Commun. 272, 97 (2007).
[3] J. K. S. Poon, Y. Y. Huang, G. T. Paloczi, and A. Yariv, IEEE Photon. Technol. Lett. 16, 2496 (2004).
[4] P. P. Absil, J. V. Hryniewicz, B. E. Little, R. A. Wilson, L. G. Joneckis, and P. T. Ho, IEEE Photon. Technol. Lett. 12, 398 (2000).
[5] B. Bortnik, Y. C. Hung, H. Tazawa, B. J. Seo, J. D. Luo, A. K. Y. Jen, W. H. Steier, and H. R. Fetterman, IEEE J. Sel. Topics Quantum Electron. 13, 104 (2007).
[6] D. Rezzonico, A. Guarino, C. Herzog, M. Jazbinsek, and P. Gunter, IEEE Photon. Technol. Lett. 18, 865 (2006).
[7] W. Y. Chen, R. Grover, T. A. Ibrahim, V. Van, W. N. Herman, and P. T. Ho, IEEE Photon. Technol. Lett. 16, 470 (2004).
[8] C. Y. Chao and L. J. Guo, J. Vac.Sci. Technol. B 20, 2862 (2002).
[9] C. Y. Chao and L. J. Guo, IEEE Photon. Technol. Lett. 16, 1498 (2004).
[10] H. B. Zhang, J. Y. Wang, L. K. Li, Y. Song, M. S. Zhao, and X. G. Jian, J. Macromol. Sci. Pure Appl. Chem. 45, 232 (2008).
[11] H. B. Zhang, J. Y. Wang, L. K. Li, Y. Song, M. S. Zhao, and X. G. Jian, Thin Solid Films 517, 857 (2008).
[12] C. C. Teng, Appl. Opt. 32, 1051 (1993).
[13] J. Teng, S. Stijn, H. Zhang, X. Jian, M. Morthier, R. Beats, X. Han, and M. Zhao, IEEE Photon. Technol. Lett. 21, 1323 (2009).
[14] A. Yariv, Electron. Lett. 36, 321 (2000).
[15] J. K. S. Poon, J. Scheuer, S. Mookherjea, G. T. Paloczi, Y. Y. Huang, and A. Yariv, Opt. Express 12, 90 (2004).