[1] C. Lin, C. Wu, P. Yang, T. Kuo. J. Display Technol., 5, 323(2008).
[3] P. C. P. Chao, L. D. Liao, C. W. Chiu. Proc. SPIE, 6196, 212(2006).
[4] A. G. Olabi. Opt. Laser Technol., 40, 379(2008).
[5] X. Xiao, S. Wen, J. Chen. J. Optoelect. Laser., 24, 679(2013).
[6] X. Cong, W. Liu, M. Qiao, Q. Zhong. Adv. Display, 1006(2012).
[8] R. S. Chang, J. Z. Tsai, T. Y. Li. J. Display Technol., 8, 79(2011).
[10] H. Yamamoto, H. Nishimura, T. Abe, Y. Hayasaki. Chin. Opt. Lett., 12, 060006(2014).
[11] K. Yuan, H. Yan, S. Jin. Chin. Opt. Lett., 12, 023302(2014).
[12] Z. Liu, P. Liu, F. Yu. Chin. Opt. Lett., 10, 112201(2012).
[13] . The standard and the method of testing of backlight module.
[14] Z. Li, S. Feng. Chin. J. Liq. Cryst. Disp., 24, 552(2009).
[15] C. C. Sun, T. X. Lee, S. H. Ma, Y. L. Lee, S. M. Huang. Opt. Lett., 31, 2193(2006).