[1] Roesler F L, Harlander J. SPIE, 1990, 1318: 234.

[2] Harlander J, Roesler F L, Cardon J G, et al. Applied Optics, 2002, 41(7): 1343.

[3] Mierkiewicz E J, Roesler F L, Harlander J, et al. SPIE, 2004, 5492: 751.

[4] Milligan S, Howard J, Laubscher B, et al. SPIE, 1999, 3698: 869.

[11] Englert C R, Harlander J, Gardon J G, et al. Applied Optics, 2004, 43(36): 6680.