[1] F. Placido, D. Gibson, E. Waddell, and E. Grossan, Proc. SPIE 6286, 628602 (2006).
[2] A. Zoeller, S. Beisswenger, R. Goetzelmann, and K. Matl, Proc. SPIE 2253, 394 (1994).
[3] O. Stenzel, S. Wilbrandt, N. Kaiser, M. Vinnichenko, F. Munnik, A. Kolitsch, A. Chuvilin, U. Kaiser, J. Ebert, and S. Jakobs, Thin Solid Films 517, 6058 (2009).
[4] R. Thielsch, A. Gatto, J. Heber, and N. Kaiser, Thin Solid Films 410, 86 (2002).
[5] M. L. Fulton, Proc. SPIE 2253, 374 (1994).
[6] M. Zhu, K. Yi, W. Zhang, Z. Fan, H. He, and J. Shao, Chin. Opt. Lett. 8, 624 (2010).
[7] X. Liu, D. Li, X. Li, Y. Zhao, and J. Shao, Chinese J. Lasers (in Chinese) 36, 1545 (2009).
[8] P. Ma, F. Pan, S. Chen, Z. Wang, J. Hu, Q. Zhang, and J. Shao, Chin. Opt. Lett. 7, 643 (2009).
[9] S. Fan, H. He, J. Shao, Z. Fan, and D. Zhang, Proc. SPIE 5774, 531 (2004).
[10] D. Patel, P. Langston, A. Markosyan, E. M. Krous, F. M. Krous, B. Langdon, F. Furch, B. Reagan, R. Route, M. M. Fejer, J. J. Rocca, and C. S. Menoni, Proc. SPIE 7132, 71320L (2008).
