[1] J. H. Jang, G. Cueva, D. C. Dumka, W. E. Hoke, P. J. Lemonias, and I. Adesida, IEEE Photon. Technol. Lett. 13, 151 (2001).
[2] Y. Zhang, C. S. Whelan, R. Leoni, P. F. Marsh, W. E. Hoke, J. B. Hunt, C. M. Laighton, and T. E. Kazior, IEEE Electron Device Lett. 24, 529 (2003).
[3] Y. Takano, T. Sakaki, Y. Nagaki, K. Kuwahara, S. Fuke, and T. Imai, J. Cryst. Growth 169, 621 (1996).
[4] T. Kimura, T. Kimura, E. Ishimura, F. Uesugi, M. Tsugami, K. Mizuguchi, and T. Murotani, J. Cryst. Growth 107, 827 (1991).
[5] N. Hayafuji, T. Kimura, N. Yoshida, N. Kaneno, M. Tsugami, K. Mizuguchi, T. Murotani, and S. Ibuki, Jpn. J. Appl. Phys. 28, L1721 (1989).
[6] G.-R. Lin, H.-C. Kuo, C.-K. Lin, and M. Feng, IEEE J. Quantum Electron. 41, 749 (2005).
[7] Y. Okuno, T. Kawano, M. Koguchi, K. Nakamura, and H. Kakibayashi, J. Cryst. Growth 137, 313 (1994).
[8] A. Ren, X. Ren, Q. Wang, D. Xiong, H. Huang, and Y. Huang, Microelectronics Journal 37, 700 (2006).