[2] A. H. M. González, A. Z. Simões, M. A. Zaghete, J. A. Varela. Mater. Charact., 50, 233(2003).
[3] W. Liu, D. Zhan, X. Ma, Z. Song, S. Feng. J. Vac. Sci. Technol., B26, 206(2008).
[4] T. Höchbauer, A. Misra, M. Nastasi, J. W. Mayer. J. Appl. Phys., 89, 5980(2001).
[6] Y. Repelin, E. Husson, F. Bennani, C. Proust. J. Phys. Chem. Solids, 60, 819(1999).
[7] Y. Kong, J. Xu, X. Chen, C. Zhang, W. Zhang, G. Zhang. J. Appl. Phys., 87, 4410(2000).
[8] S. V. Yevdokimov, A. V. Yatsenko. Crystallogr. Rep., 48, 542(2003).
[9] W. T. Hsu, Z. B. Chen, C. C. Wu, R. K. Choubey, C. W. Lan. Materials, 5, 227(2012).
[12] K. Lengyel, L. Kovács, G. Mandula, R. Rupp. Ferroelectrics, 257, 255(2001).