[1] R. Stoian, M. Boyle, A. Thoss, A. Rosenfeld, G. Korn, I. V. Hertel, and E. E. B. Campbell, Appl. Phys. Lett. 80, 353 (2002).

[2] K. Venkatakrishnan, N. R. Sivakumar, C. W. Hee, B. Tan, W. L. Liang, and G. K. Gan, Appl. Phys. B 77, 959 (2003).

[3] T. Hashimoto, S. Juodkazis, and H. Misawa, Appl. Phys. A 83, 337 (2006).

[4] K. Kawamura, T. Ogawa, N. Sarukur, M. Hirano, and H. Hosono, Appl. Phy. B 71, 119 (2001).

[5] S. Kanebira, J. H. Si, J. R. Qiu, K. Fujita, and K. Hirao, Nano. Lett. 5, 1591 (2005).

[6] E. Toratani, M. Kamata, and M. Obara, Appl. Phys. Lett. 87, 171103 (2005).

[7] J. H. Marburger, Prog. Quantum Electron. 4, 35 (1975).

[8] L. Luo, D. L. Wang, C. D. Li, H. B. Jiang, H. Yang, and Q. H. Gong, J. Opt. A 4, 105 (2002).

[9] R. R. Gattass, L. R. Cerami, and E. Mazur, Opt. Express 14, 5279 (2006).

[10] K. A. Nowakowski, "Laser beam interaction with materials for microscale applications" (Ph.D. dissertation, Worcester Polytechnic Institute, 2005).

[11] K. J. K. Koerkamp, S. Enoch, F. B. Segerink, N. F. V. Hulst, and L. Kuiperis, Phys. Rev. Lett. 92, 183901 (2004).