[1] J. E. Martin, N. P. Fox, P. J. Key. Metrologia, 21, 147(1985).
[2] T. Varpula, H. Seppä, J. M. Saari. IEEE Trans. Instrum. Meas., 38, 558(1989).
[3] P. V. Foukal, C. Hoyt, H. Kochling, P. Miller. Appl. Opt., 29, 988(1990).
[5] T. R. Gentile, J. M. Houston, J. E. Hardis, C. L. Cromer, A. C. Parr. Appl. Opt., 35, 1056(1996).
[6] K. D. Stock, H. Hofer. Metrologia, 30, 291(1993).
[7] S. P. Morozova, V. A. Konovodchenko, V. I. Sapritsky, B. E. Lisiansky, P. A. Morozov, U. A. Melenevsky, A. G. Petic. Metrologia, 32, 557(1995).
[8] J. E. Martin, N. P. Fox. Metrologia, 30, 305(1993).
[9] J. Zwinkels, A. Sperling, T. Goodman, J. C. Acosta, Y. Ohno, M. L. Rastello, M. Stock, E. Woolliams. Metrologia, 53, G1(2016).
[10] A. C. Carter, S. R. Lorentz, T. M. Jung, R. U. Datla. Appl. Opt., 44, 871(2005).
[12] N. P. Fox, P. R. Haycocks, J. E. Martin, I. Ul-Haq. Metrologia, 32, 1995.
[13] K. D. Stock, H. Hofer, M. White, N. P. Fox. Metrologia, 37, 437(2000).
[14] W. Pang, X. Zheng, J. Li, X. Shi, H. Wu, M. Xia, D. Gao, J. Shi, T. Qi, Q. Kang. Chin. Opt. Lett., 13, 051201(2015).
[15] K. Zhao, X. Shi, H. Chen, Y. Liu, C. Liu, K. Chen, L. Li, H. Gan, C. Ma. Metrologia, 53, 981(2016).
[16] N. Xu, Y. Lin, H. Gan, J. Li. Proc. SPIE, 10155, 1015513(2016).
[17] X. Zhao, Y. Zhao, K. Tang, L. Zheng, S. Liu, Y. Zhao, F. Li, M. Cui. Nucl. Tech., 41, 040101(2018).
[18] X. Ye, X. Yi, W. Fang, K. Wang, Y. Luo, Z. Xia, Y. Wang. IET Sci. Meas. Technol., 12, 994(2018).
[19] X. Zhuang, H. Liu, P. Zhang, X. Shi, C. Liu, H. Liu, H. Wang. Acta Phys. Sin., 68, 060601(2019).
[20] Z. Qin, G. Xie, J. Ma, P. Yuan, L. Qian. Chin. Opt. Lett., 15, 111402(2017).
[21] J. Hua, Z. Wang, J. Duan, L. Li, C. Zhang, X. Wu, Q. Fan, R. Chen, X. Sun, L. Zhao, Q. Guo, L. Ding, L. Sun, C. Han, X. Li, N. Wang, H. Gong, X. Hu, Q. Liao, D. Liu, T. Yu, Y. Wu, E. Liu, Z. Zeng. Chin. Opt. Lett., 16, 111203(2018).