[1] G. Fortin, N. McCarthy. Appl. Opt., 44, 4874(2005).
[2] T. Glaser. Adv. Opt. Technol., 4, 25(2015).
[3] Q. Zhou, J. Pang, X. Li, K. Ni, R. Tian. Chin. Opt. Lett., 13, 110501(2015).
[5] A. Kimura, W. Gao, A. Yoshikazu, L. Zeng. Precis. Eng., 34, 145(2010).
[7] T. J. Kessler, J. Bunkenburg, H. Huang, A. Kozlov, D. D. Meyerhofer. Opt. Lett., 29, 635(2004).
[10] E. K. Popov, L. V. Tsonev, M. L. Sabeva. Opt. Eng., 31, 2168(1992).
[12] Z. Yu, L. Chen, W. Wu, H. Ge, S. Y. Chou. J. Vac. Sci. Technol. B, 21, 2089(2003).
[13] R. Rabady, D. Frankstein, I. Avrutsky. Opt. Lett., 28, 1665(2003).
[14] J. P. Marsh, D. J. Mar, D. T. Jaffe. Appl. Opt., 46, 3400(2007).
[15] W. Wang, M. Gully-Santiago, C. Deen, D. J. Mar, D. T. Jaffe. Proc. SPIE, 7739, 77394L(2010).
[18] H. Lin, L. Zhang, L. Li, C. Jin, H. Zhou, T. Huo. Opt. Lett., 33, 485(2008).
[19] X. Tan, Q. Jiao, X. Qi, H. Bayan. Opt. Express, 24, 5896(2016).
[20] D. Ma, L. Zeng. Opt. Lett., 40, 1346(2015).
[21] L. Shi, L. Zeng, L. Li. Opt. Express, 17, 21530(2009).
[22] L. Li, M. Xu, G. I. Stegeman, C. T. Seaton. Proc. SPIE, 835, 72(1987).