[1] E. J. Darland, G. E. Leroi, and C. G. Enke, Anal. Chem. 51, 240 (1979).
[2] D. P. Donovan, J. A.Whiteway, and A. I. Carswell, Appl. Opt. 32, 6742 (1993).
[3] K. Omote, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A 293, 582 (1990).
[4] M.Ware, A. Migdall, J. C. Bienfang, and S. V. Polyakov, J. Mod. Opt. 54, 361 (2006).
[5] J. W. E. van Dijk and H.W. Julius, Radiation Protection Dosimetry 84, 359 (1999).
[6] Z.-S. Liu, D. Wu, J.-T. Liu, K.-L. Zhang, W.-B. Chen, X.-Q. Song, J. W. Hair, and C.-Y. She, Appl. Opt. 41, 7079 (2002).
[7] J. Zhu, Y. Chen, Z. Yan, S. Wu, and Z. Liu, Chin. Opt. Lett. 6, 449 (2008).
[8] Z. S. Liu, B. Y. Liu, Z. G. Li, Z. A. Yan, S. H. Wu, and Z. B. Sun, Appl. Phys. B 88, 327 (2007).
[9] J. W. M¨uller, Nucl. Instrum. Methods 112, 47 (1973).
[10] D. N. Whiteman, Appl. Opt. 42, 2571 (2003).
[11] D. N. Whiteman, S. H. Melfi, and R. A. Ferrare, Appl. Opt. 31, 3068 (1992).
[12] M. S. Kang, D.-H. Lee, J. Lee, J. Y. Lee, S.-K. Choi, and H. S. Park, Metrologia 45, 382 (2008).
[13] D. N. Whiteman, B. Demoz, P. Di Girolamo, J. Comer, I. Veselovskii, K. Evans, Z.Wang, M. Cadirola, K. Rush, G. Schwemmer, B. Gentry, S. H. Melfi, B. Mielke, D. Venable, and T. Van Hove, J. Atm. Ocean. Technol. 23, 157 (2006).
