Microstructure and optical properties of Ge films prepared by ion beam assisted deposition

Jian Leng; Yiqin Ji; Li Zhao; Huasong Liu; Dandan Liu; Chenghui Jiang

doi:10.3788/col201311.s10307

[1] A. F. Khan, M. Mehmood, A. M. Rana, and T. Muhammad, Appl. Surf. Sci. 256, 2031 (2010).

[2] Q. Wan, C. L. Lin, N. L. Zhang, W. L. Liu, G. Yang, and T. H. Wang, Appl. Phys. Lett. 82, 3162 (2003).

[3] Q. Wan, C. L. Lin, W. L. Liu, and T. H. Wang, Appl. Phys. Lett. 82, 4708 (2003).

[4] C. Li, J. Xu, T. Lin, W. Li, S. X. Li, and K. J. Chen, Chinese J. Luminescence 32, 1165 (2011).

[5] Z. He, J. Xu, W. Li, K. Chen, and D. Feng, J. Non-Cryst. Solids 266-269, 1025 (2000).

[6] W. K. Choi, S. Kanakaraju, Z. X. Shen, and W. S. Li, Appl. Surf. Sci 144-145, 697 (1999).

[7] Y. W. Ho, V. Ng, W. K. Choi, S. P. Ng, T. Osipowicz, H. L. Seng, W. W. Tjui, and K. Li, Scr. Mater. 44, 1291 (2001).

[8] Y. X. Jie, A. T. S. Wee, C. H. A. Huan, W. X. Sun, Z. X. Shen, and S. J. Chua, Mater. Sci. Eng. B 107, 8 (2004).

[9] S. K. Ray and K. Das, Opt. Mater. 27, 948 (2005).

[10] Y. Zhu and P. P. Ong, J. Phys. Condens. Matter. 13, 4075 (2001).

[11] L. Martinu and D. Poitras, J. Vac. Sci. Technol. A 18, 2619 (2000).

[12] Y. J. Park, K. M. A. Sobahan, and C. K. Hwangbo, Surf. Coat. Technol. 203, 2646 (2009).

[13] S. M. Jeong, W. H. Koo, S. H. Choi, S. J. Jo, H. K. Baik, S. J. Lee, and K. M. Song, Appl. Phys. Lett. 85, 1051 (2004).

[14] Y. H. Zhao, G. Q. Liu, J. Q. Xiao, C. Dong, and L. S. Wen, J. Mater. Sci. Technol. 25, 681 (2009).

[15] K. M. Hung, C. S. Hsieh, W. D. Yang, and Y. J. Sun, J. Mater. Sci. 42, 2376 (2007).

[16] X. J. Wang, L. D. Zhang, J. P. Zhang, G. He, M. Liu, and L. Q. Zhu, Mater. Lett. 62, 4235 (2008).

[17] J. Leng, Z. N. Yu, Y. Q. Li, D. P. Zhang, X. Y. Liao, and W. Xue, Appl. Surf. Sci. 256, 5832 (2010).

[18] A. F. Khan, M. Mehmood, A. M. Rana, M. T. Bhatti, and A. Mahmood, Chin. Phys. Lett. 26, 077803 (2009).

[19] A. F. Khan, M. Mehmood, A. M. Rana, and M. T. Bhatti, Appl. Surf. Sci. 255, 8562 (2009).

[20] The Joint Committee on Powder Diffraction Standards (JCPDS), Card No. 03-065-9209, by International Centre for Diffraction Data (ICDD), Swarthmore, PA, USA.