[2] Hunt J. T.National ignition facility performance review 1998 USA: LLNL[EB/OL].
[3] Demos S. G., Staggs M., Minoshima K., Fujimoto J.[J]. Opt. Express, 10, 1444(2002).
[4] Carr C. W., Feit M. D., Nostrand M. C., Adam J. J.[J]. Meas. Sci. Technol., 17, 1985(2006).
[5] Hunt J. T., Manes K. R. , Renard P. A.[J]. Appl. Optim., 32, 5973(1993).
[6] Deng W., Jin C.[J]. Chin. Opt. Lett., 11(2013).
[7] Lamaignere L., Dupuy G., Donval T.[J]. Proc. SPIE, 8530(2012).
[8] Norton M. A., Hrubesh L. W., Wu Z., Donohue E. E., Feit M. D., Kozlowski M. R., Milan D., Neeb K. P., Molander W. A., Rubenchik A. M., Sell W. D., Wegner P. Growth of laser initiated damage in fused silica at 351 nm, LLNL UCRL-JC-139624[EB/OL].
[10] Yoshiyama J., Genin F. Y., Salleo A., Thomas I., Kozlowski M. R., Sheehan L. M., Hutcheion I. D., Camp D. W.[J]. Proc. SPIE, 2744, 220(1997).
[11] Han H., Li Y., Duan T., He C., Feng G., Yang L.[J]. Optik, 124, 1940(2012).
[12] Rubenchik A. M., Feit M. D.[J]. Proc. SPIE, 4679, 79(2002).
[14] Zhang G., Lu X., Cao H., Yin X., Lv F., Zhang Z., Li J., Wang R., Ma W., Zhu J.[J]. Acta Phys. Sin., 61(2012).
[15] Rainer F.[J]. Proc. SPIE, 3244, 272(1997).
[16] He J., Ge H., Wang Y.[J]. Comput. Eng. Sci., 31, 58(2009).
[17] Vincent L., Soille P.[J]. IEEE Trans. Pattern Anal. Mach. Intell., 13, 583(1991).
[18] Demos S. G., Staggs M., Kozlowski M. R.[J]. Appl. Optim., 41, 3628(2002).
[19] Negres R. A., Cross D. A. , Carr C. W.[J]. Opt. Express, 18, 19966(2010).