[1] J. Liu, W. Zhang, H. Cui, J. Sun, H. Li, K. Yi, M. Zhu. Chin. Opt. Lett., 12, 083101(2014).
[2] L. H. J. F. Beckmann, D. Ehrlichmann. Opt. Quantum. Electron., 27, 1407(1995).
[3] S. T. Cole, R. L. Fork, D. J. Lamb, P. J. Reardon. Opt. Express, 7, 285(2000).
[5] Q. Yu, M. Wang, W. Chen. Chin. Opt. Lett., 13, 081406(2015).
[6] . Optics and optical instruments-measurement of reflectance of plane surfaces and transmittance of plane parallel elements.
[7] A. Lamminpää, S. Nevas, F. Manoocheri, E. Ikonen. Appl. Opt., 45, 1392(2006).
[8] A. Duparre, D. Ristau. Appl. Opt., 50, C172(2011).
[9] G. Schmidl, W. Paa, W. Triebel, S. Schippel, H. Heyer. Appl. Opt., 48, 6754(2009).
[10] H. Sekiguchi, T. Mitake, K. Nakamura, N. Kitajima, I. Kataoka. Opt. Lett., 20, 530(1995).
[11] Y. Gong, B. Li, Y. Han. Appl. Phys. B, 93, 355(2008).
[12] D. Jacob, F. Bretenaker, P. Pourcelot, P. Rio. Appl. Opt., 33, 3175(1994).
[13] Y. L. Grand, A. L. Floch. Appl. Opt., 29, 1244(1990).
[14] Y. L. Grand, A. L. Floch. Appl. Opt., 27, 4925(1988).
[15] R. Engeln, G. Berden, E. V. D. Berg, G. Meijer. J. Chem. Phys., 107, 4458(1997).
[16] A. C. R. Pipino. Phys. Rev. Lett., 83, 3093(1999).
[17] J. Y. Lee, H. W. Lee, J. W. Kim, Y. S. Yoo, J. W. Hahn. Appl. Opt., 39, 1941(2000).
[18] H. Huang, K. K. Lehmann. Appl. Opt., 47, 3817(2008).
[19] D. Z. Anderson, J. C. Frisch, C. S. Masser. Appl. Opt., 23, 1238(1984).
[20] B. Li, Z. Qu, Y. Han, L. Gao, L. Li. Chin. Opt. Lett., 8, 94(2010).
[21] H. Zu, B. Li, Y. Han, L. Gao. Opt. Express, 21, 26735(2013).
[22] B. Li, H. Cui, Y. Han, L. Gao, C. Guo, C. Gao, Y. Wang. Opt. Express, 22, 29135(2014).
[23] H. A. Macleod. Thin-Film Optical Filters(2001).
[24] D. Jacob, M. Valler, F. Bretenaker, A. L. Floch, M. Oger. Opt. Lett., 20, 671(1995).
[25] M. Vallet, F. Bretenaker, A. L. Floch, R. L. Naour, M. Oger. Opt. Commun., 168, 423(1999).
[26] B. Li, D. Shaughnessy, A. Mandelis. J. Appl. Phys., 97, 023701(2005).
[27] J. Y. Lee, H. W. Lee, J. W. Hahn. Jpn. J. Appl. Phys., 38, 6287(1999).