[1] Z. Wang, S. Zhang, W. Wu, J. Zhu, H. Wang, C. Li, Y. Xu, F. Wang, Z. Zhang, L. Chen, H. Zhou, and T. Huo, Chin. Opt. Lett. 4, 611 (2006).

[2] B. W. Smith, J. J. Bloch, and D. Roussel-Dupre, Proc. SPIE 1160, 171 (1989).

[3] J. M. Slaughter, M. K. Burkland, P. A. Kearney, A. R. Lampis, Z. Milanovic, D. W. Schulze, C. M. Falco, J. Roberts, J. Kerner, and E. B. Saloman, Proc. SPIE 1160, 235 (1989).

[4] N. M. Celgio, J. X-Ray Science and Technology 1, 7 (1989).

[5] S. Y. Lee, H. J. Kim, J. H. Ahn, Y. Kang, and Y.-C. Chung, J. Korean Phys. Soc. 41, 427 (2002).

[6] D. G. Stearns, R. S. Rosen, and S. P. Vernon, Appl. Opt. 32, 6952 (1993).

[7] S. Bajt, D. G. Stearns, and P. A. Kearney, J. Appl. Phys. 90, 1017 (2001).

[8] J. M. Freitag and B. M. Clemens, J. Appl. Phys. 89, 1101 (2001).

[9] M. H. Modi, G. S. Lodha, M. Nayak, A. K. Sinha, and R. V. Nandedkar, Physica B 325, 272 (2003).

[10] L. Nevot and P. Croce, Rev. Phys. Appl. 15, 761 (1980).

[11] H. Nii, M. Miyagawa, Y. Matsuo, Y. Sugie, M. Niibel, and H. Kinoshita, Jpn. J. Appl. Phys. 41, 5338 (2002).