[1] Z. Kuang, L. Cheng, Y. Liang, H. Liang, B. Guan. Chin. Opt. Lett., 14, 050602(2016).
[2] Y. Liu, R. Li, X. Lan, Z. Shen, J. Lu, X. Ni. Chin. Opt. Lett., 3, 88(2005).
[4] Z. Qi, J. Yao, L. Zhao, Y. Cui, C. Lu. Photon. Res., 3, 313(2015).
[5] C. Letty, B. Renou, J. Reveillon, S. Saengkaew, G. Gréhan. Combust. Flame, 160, 1803(2013).
[7] E. Porcheron, P. Lemaitre, A. Nuboer, V. Rochas, J. Vendel. Nucl. Eng. Des., 237, 1862(2007).
[8] J. Hom, N. Chigier. Appl. Opt., 41, 1899(2002).
[10] Y. Zhao, H. H. Qiu. Exp. Fluids, 40, 60(2006).
[11] N. Roth, K. Anders, A. Frohn. Appl. Opt., 30, 4960(1991).
[12] J. Van Beeck, D. Giannoulis, L. Zimmer, M. L. Riethmuller. Opt. Lett., 24, 1696(1999).
[13] M. R. Vetrano, J. P. Antonius Johannes Van Beeck, M. L. Riethmuller. Opt. Lett., 30, 658(2005).
[14] J. P. van Beeck, L. Zimmer, M. L. Riethmuller. Part. Part. Syst. Charact., 18, 196(2001).
[16] Y. Wu, J. Promvongsa, X. Wu, K. Cen, G. Grehan, S. Saengkaew. Opt. Express, 23, 30545(2015).
[17] P. Lemaitre, E. Porcheron, G. Gréhan, L. Bouilloux. Meas. Sci. Technol, 17, 1299(2006).
[18] J. Wilms, B. Weigand. Appl. Opt., 46, 2109(2007).
[19] M. R. Vetrano, S. Gauthier, J. van Beeck, P. Boulet, J. Buchlin. Exp. Fluids, 40, 15(2006).
[20] J. A. Adam. Appl. Opt., 47, H11(2008).
[21] X. Quan, E. S. Fry. Appl. Opt., 34, 3477(1995).