[1] D. Huang, E. A. Swanson, C. P. Lin, J. S. Schuman, W. G. Stinson, W. Chang, M. R. Hee, T. Flotte, K. Gregory, C. A. Puliafito, and J. G. Fujimoto, Science 254, 1178 (1991).
[2] B. Bouma, G. J. Tearney, S. A. Boppart, M. R. Hee, M. E. Brezinski, and J. G. Fujimoto, Opt. Lett. 20, 1486 (1995).
[3] A. Dubois, L. Vabre, R. Lecaque, and A. C. Boccara, Proc. SPIE 4956, 14 (2003).
[4] M. Ducros, M. Laubscher, B. Karamata, S. Bourquin, T. Lasser, and R. P. Salathe, Opt. Commun. 202, 29 (2002).
[5] E. Beaurepaire, A. C. Boccara, M. Lebec, L. Blanchot, and H. Saint-Jalmes, Opt. Lett. 23, 244 (1998).
[6] A. Gh. Podoleanu, J. A. Rogers, D. A. Jackson, and S. Dunne, Opt. Express 7, 292 (2000).
[7] R. S. Sirohi and F. S. Chau, Optical Methods of Measurement (Marcel Dekker, New York, 1999) p. 128.
