[4] S. Eliezer, S. V. Pinhasi. High Power Laser Sci. Eng., 1, 44(2013).
[5] V. Bychkov, M. Modestov, C. K. Law. Progr. Energy Combust. Sci., 47, 32(2015).
[7] S. Jia, R. Li, J. Liu, X. Li, X. Song, H. Li. Plasma Sci. Technol., 15, 640(2013).
[9] R. E. Benchea, I. Cretescu, S. Kalinowski. Anal. Methods, 5, 3650(2013).
[10] H.-J. Kim, D.-J. Kim, J.-T. Hong, G.-C. Xu, D.-G. Lee. J. Electr. Engng Technol., 6, 275(2011).
[11] G. J. Linford. Appl. Opt., 33, 8333(1994).
[12] J. L. Emmett, A. L. Schawlow, E. H. Weinberg. J. Appl. Phys., 35, 2601(1964).
[13] H. Powell, A. Erlandson, K. Jancaitis. Proc. SPIE, 609, 78(1986).
[14] H. T. Powell, A. C. Erlandson, K. S. Jancaitis, E. M. James. Proc. SPIE, 1277, 103(1990).
[15] J. F. Holzrichter, J. L. Emmett. Appl. Opt., 8, 1459(1969).
[16] R. H. Dishington, W. R. Hook, R. P. Hilberg. Appl. Opt., 13, 2300(1974).
[17] R. J. F. Tucker, N. Cochran, G. L. Morelli. Proc. SPIE, 8599, 85990X(2013).
[19] T. Efthymiopoulos, B. K. Garside. Appl. Opt., 16, 70(1977).
[20] I. S. Marshak. Appl. Opt., 2, 793(1963).
[21] J. G. Edwards. Appl. Opt., 6, 837(1967).
[23] M. A. Gusinow. Appl. Opt., 14, 2645(1975).
[24] W. Lama, T. J. Hammond, P. J. Walsh. Appl. Opt., 21, 654(1982).
[25] R. Zainal, A. R. Tamuri, Y. M. Daud, B. Noriah. AIP Conf. Proc., 1250, 133(2010).