[1] D. C. Brown, R. L. Cone, Y. Sun, R. W. Equall. IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron., 11, 604(2005).

[2] J. Dong, M. Bass, Y. Mao, P. Deng, F. Gan. J. Opt. Soc. Am. B, 20, 1975(2003).

[3] D. S. Sumida, T. Y. FanAdvanced Solid-State Lasers. and , in (), paper YL4.(1994).

[4] A. V. Mezenov, L. N. Soms, A. I. StepanovThermooptics of Solid-State Lasers Mechanical Engineering. , , and , (Leningrad, ), p. ., 199(1986).

[5] J. Mende, E. Schmid, J. Speiser, G. Spindler, A. Giesen. , , , , and , Proc. SPIE , 71931V ()., 7193(2009).

[6] J. Song, A. Liu, K. Okino, K.-I. Ueda. Appl. Opt., 36, 8051(1997).

[7] K.-i. Ueda4th International Symposium on High Power Laser Science and Engineering. , in ().(2021).

[8] M. Volkov, I. Kuznetsov, G. Kurnikov, I. Mukhin. Opt. Contin., 2, 473(2023).

[9] M. R. Volkov, I. Kuznetsov, I. B. Mukhin, O. V. Palashov. Quantum Electron., 49, 354(2019).

[10] A. M. Scott, G. Cook, A. P. G. Davies. Appl. Opt., 40, 2461(2001).

[11] E. Perevezentsev, A. Poteomkin, E. A. Khazanov. Appl. Opt., 46, 774(2007).

[12] A. E. Siegman. , Proc. SPIE , 13 ()., 1224(1990).

[13] T. Dietrich, S. Piehler, C. Röcker, M. Rumpel, M. A. Ahmed, T. GrafConference on Lasers and Electro-Optics. , , , , , and , in , OSA Technical Digest (2018), paper SM1N.4..

[14] M. Zeyen, A. Antognini, K. Kirch, A. Knecht, M. Marszalek, F. Nez, J. Nuber, R. Pohl, I. Schulthess, L. Sinkunaite. , , , , , , , , , and , Proc. SPIE , 108960X ()., 10896(2019).

[15] J. Neuhaus, J. Kleinbauer, A. Killi, S. Weiler, D. Sutter, T. Dekorsy. Opt. Lett., 33, 726(2008).

[16] J. Korner, J. Hein, H. Liebetrau, M. Kahle, F. Seifert, D. Kloepfel, M. Kaluza7th HEC-DPSSL Workshop. , , , , , , and , in ().(2012).

[17] T. Dietz, M. Jenne, D. Bauer, M. Scharun, D. Sutter, A. Killi. Opt. Express, 28, 11415(2020).

[18] C. Herkommer, P. Krötz, R. Jung, S. Klingebiel, C. Wandt, R. Bessing, P. Walch, T. Produit, K. Michel, D. Bauer, R. Kienberger, T. Metzger. Opt. Express, 28, 30164(2020).

[19] E. Perevezentsev, I. Kuznetsov, I. Mukhin, O. V. Palashov. Appl. Opt., 56, 8471(2017).