[1] Новиков М. А. and Коняхин И. А., Современные оптико-электронные системы мониторинга деформаций объектов. // Пятая Санкт-Петербургская Ассамблея молодых учёных и специалистов. / Тезисы докладов. СПб: СПбГУ, С. 55. (2000).

[2] Артеменко Ю. Н., Коняхин И. А., Панков Э. Д. and Тимофеев А. Н., Изв. Вузов. Приборостроение 9, 51 (2008).

[3] Wu B and Yang S, Laser Technol. 39, 5 (2015).

[4] Onori D., Scotti F., Scaffardi M., Bogoni A. and Laghezza F., Journal of Lightwave Technology 34, 20 (2016).

[5] Wu H., Zhang F., Meng F., Balling P., Li J., Pan L. and Qu X., IEEE Photon. Technol. Lett. 27, 24 (2015).

[6] Wu H., Zhao T., Wang Z., Zhang K., Xue B., Li J. and Qu X., Applied Physics Letters 111, 25 (2017).

[7] Wang G., Li S., An G., Wang X., Zhao Y. and Zhang W., Applied Optics 54, 8817 (2015).

[8] Дрейпер Н. and Смит Г, Прикладной регрессионный анализ. пер. с англ. М.: Финансы и статистика, Изд. 2-е, перераб. идоп 1, 366 (1986).