[1] P. Su, C. Oh, R. E. Parks, J. H. Burge. Proc. SPIE, 7426, 74260J(2009).
[2] J. H. Burge, S. Benjamin, D. Caywood, C. Noble, M. Novak, C. Oh, R. Parks, B. Smith, P. Su, M. Valente, C. Zhao. Proc. SPIE, 7426, 74260L(2009).
[3] Y. Wang, P. Su, R. E. Parks, C. Oh, J. H. Burge. Opt. Eng., 51, 073606(2012).
[4] A. Lewis, S. Oldfield, M. Callender, A. Efstathiou, A. Gee, C. King, D. Walker. Proceedings of Simposio de Metrología, 101(2006).
[5] H. Jing, Z. Lin, L. Ma, S. Wu, F. Wu. J. Eur. Opt. Soc.-Rap. Publ., 6, 11052(2011).
[6] L. Xiong, X. Luo, Z. Liu, L. Zheng, F. Zhang, X. Zhang. Acta Opt. Sin., 35, 1212002(2015).
[7] L. Xiong, X. Luo, E. Qi, F. Zhang, D. Xue, X. Zhang. Infrared Laser Eng., 47, 217003(2018).
[8] X. Luo. Chin. Opt. Lett., 12, S22202(2014).
[9] L. Xiong, X. Luo, H. Hu, Z. Zhang, F. Zhang, L. Zheng, X. Zhang. Opt. Eng., 56, 084101(2017).