Multilayers with high-reflectivity at 19.5 nm and low-reflectivity at 30.4 nm

Li Jiang; Jingtao Zhu; Zhong Zhang; Zhanshan Wang; Michael Trubetskov; Alexander V. Tikhonravov

doi:10.3788/col201311.s10606

[1] J. P. Delaboudiniere, G. E. Artzner, J. Brunaud, A. H. Gabriel, J. F. Hochedez, and F. Millier, Sol. Phys. 162, 291 (1995).

[2] V. Slemzin, S. Kuzin, I. Zhitnik, J. P. Delaboudiniere, F. Auchere, A. Zhukov, R. Linden, O. Bugaenko, A. Ignat’ev, A. Mitrofanov, A. Pertsov, S. Oparin, A. Stepanov, and A. Afanas’ev, Sol. Sys. Res. 39, 489 (2005)

[3] A. K. Dupree, Astrophys. J. 178, 527 (1996).

[4] T. Yoshida and S. Tsuneta, Astrophys. J. 459, 342 (1996).

[5] M. F. Ravet, F. Bridou, X. Zhang-Song, A. Jerome, F. Delmotte, R. Mercier, M. Bougnet, P. Bouyries, and J. P. Delaboudiniere, Proc. SPIE 5250, 99 (2004).

[6] A. J. Corso, P. Zuppella, P. Nicolosi, D. L. Windt, E. Gullikson, and M. G. Pelizzo, Opt. Express 19, 13963 (2011).

[7] E. Meltchakov, C. Hecquet, M. Roulliay, S. D. Rossi, Y. Menesguen, A. Jerome, F. Bridou, F. Varniere, M. F. Ravet-Krill, and F. Delmottel, Appl. Phys. A 98, 111 (2010).

[8] D. L. Voronov, E. H. Anderson, R. Cambie, S. Cabrini, S. D. Dhuey, L. I. Goray, E. M. Gullikson, F. Salmassi, T. Warwick, V. V. Yashchuk, and H. A. Padmore, Opt. Express 19, 6320 (2011).

[9] E. Meltchakov, C. Hecquet, M. Roulliay, S. D. Rossi, Y. Menesguen, A. Jerome, F. Bridou, F. Varniere, M. F. Ravet-Krill, and F. Delmottel, Appl. Phys. A 98, 111 (2010).

[10] J. H. Underwood and T. W. Barbee, Appl. Opt. 20, 3027 (1981).

[11] A. Khandar and P. Dhez, Proc. SPIE 563, 158 (1985).

[12] B. W. Smith, J. J. Bloch, and D. R. Dupre, Proc. SPIE 1160, 171 (1989).

[13] N. M. Celgio, J. X-ray Sci. Technol. 1, 7 (1989).

[14] Z.Wang, F.Wang, Z. Zhang, H.Wang, W.Wu, S. Zhang, Y. Xu, Z. Gu, X. Cheng, C. Li, Y. Wu, B. Wang, S. Qin, and L. Chen, Opt. Prec. Eng. (in Chinese) 13, 512 (2005).

[15] D. D. Allred, R. S. Turley, and M. B. Squires, Proc. SPIE 3767, 280 (1999).

[16] S. Lunt, R. S. Turley, and D. D. Allred, J. X-ray Sci. Technol. 9, 1 (2001).

[17] Z. S. Wang, J. T. Zhu, R. Chen, J. Xu, F. L. Wang, Z. Zhang, J. Xu, W. J. Wu, L. Q. Liu, H. J. Zhang, D. Xu, H. Jiang, L. Y. Chen, H. J. Zhou, T. L. Huo, M. Q. Cui, and Y. D. Zhao, Proc. SPIE 6984, 698433 (2008).

[18] Z. S. Wang, Proc. SPIE 7101, 710110 (2008).

[19] C. Hecquet, F. Delmotte, M. F. Ravet-Krill, S. Rossi, A. Jerome, F. Bridou, F. Varniere, E. Meltchakov, F. Auchere, A. Giglia, N. Mahne, and S. Nanaronne, Appl. Phys. A95, 401 (2009).

[20] J. Gautier, F. Delmotte, and M. F. Ravet, Opt. Commun. 281, 3032 (2008).

[21] S. Zuccon, D. Garoli, M. G. Pelizzo, P. Nicolosi, S. Fineschi, and D. Windt, in Proceedings of 6th International Conference on Space Optics (2006).

[22] M. Suman, M. G. Pelizzo, D. L. Windt, and P. Nicolosi, Appl. Opt. 48, 5432 (2009).

[23] M. Zhou and S. Sun, Genetic Algorithms: Theory and Applications (in Chinese) (National Defence Industry, Beijing, 2005).

[24] J. T. Zhu, Z. S. Wang, Z. Zhang, and F. Wang, Appl. Opt. 47, 310 (2008).

[25] S. Xue and J. Shao, Opt. Prec. Eng. (in Chinese) 12, 480 (2004).