[1] A. V. Zinovchuk, O. Yu. Malyutenko, V. K. Malyutenko, A. D. Podoltsev and A. A. Vilisov, J. Appl. Phys. 104, 033115 (2008).

[2] D .P. Xu, M. D’ Souza, J.C. Shin, L.J. Mawst and D. Botez, J. Crystal Growth 310, 2370 (2008).

[3] D. K. Kim, H. J. Lee, Won-Chan An , H. G. Kim and L. K. Kwac, J. Korean Phys. Society 72, 1020 (2018).

[4] H. D. Lu, B. Zhang and F. M. Guo, Opt Quant Electron 48, 181 (2016).

[5] Z. Cevher, P. A. Folkes, H. S. Hier, B. L. VanMil, B. C. Con-nelly, W. A. Beck and Y. H. Ren, J. Appl. Phys. 123, 161512 (2018).

[6] D. Ban, H. Luo, H. C. Liu, Zbigniew R. Wasilewski and Margaret Buchanan, IEEE Photonics Technol. Lett. 17, 1477 (2005).

[7] D. Das, H. Ghadi, B. Tongbram, S.M. Singh and S. Chakra-barti, J. Lumin. 192, 277 (2017).

[8] I. E. Cortes-Mestizo, E. Briones, C.M. Yee-Rendón, L. Zamora Peredo, L.I. Espinosa-Vega, R. Droopad and Victor H. Méndez-Garcia, J. Crystal Growth 477, 59 (2017).

[9] R. A. Herrera and C. A. Alvarez Ocampo, J. Nonlin. Optical Phys. & Mate., 26, 1750031 (2017).

[10] T. Walther and A.B. Krysa, J. Microscopy 268, 298 (2005).

[11] D. K. Kim and H. J. Lee, J. Nanoscien. and Nanotechn. 18, 2014 (2018).

[12] T. Kawazu, T. Noda and Y. Sakuma, Appl. Phys. Lett. 112, 072101 (2018).

[13] J. Souto, J. L. Pura, A. Torres, J. Jiménez, M. Bettiati and F. J. Laruelle, Microelectron. Reliability 64, 627 (2016).

[14] Z. Z. Zhang, Z. L. Fu, X. G. Guo and J. C. Cao, Chin. Phys. B 27, 030701 (2018).

[15] Cheng-Han Wu and Chao-Hsin Wu, Appl. Phys. Lett. 105, 171104 (2014).

[16] J. Thoma, B. L. Liang, L. Lewis, S. P. Hegarty, G. Huyet and D. L. Huffaker, Appl. Phys. Lett. 102, 113101 (2013).