[1] L. Gallais, P. Cormont, and J.-L. Rullier, Opt. Express 17, 23488 (2009).
[2] J. Wong, J. L. Ferriera, E. F. Lindsey, D. L. Haupt, I. D. Hutcheon, and J. H. Kinney, J. Non-Cryst. Solids 352, 255 (2006).
[3] S. Xu, X. Zu, X. Jiang, X. Yuan, J. Huang, H. Wang, H. Lv, and W. Zheng, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 266, 2936 (2008).
[4] M. A. Norton, E. E. Donohue, M. D. Feit, R. P. Hackel, W. G. Hollingsworth, A. M. Rubenchik, and M. L. Spaeth, Proc. SPIE 6403, 64030L (2007).
[5] M. A. Norton, L. W. Hrubesh, Z. Wu, E. E. Donohue, M. D. Feit, M. R. Kozlowski, D. Milam, K. P. Neeb, W. A. Molander, A. M. Rubenchik, W. D. Sell, and P. Wegner, LLNL UCRL-JC-139624 (2001).
[6] L. W. Hrubesh, M. A. Norton, W. A. Molander, E. E. Donohue, S. M. Maricle, B. M. Penetrante, R. M. Brusasco, W. Grundler, J. A. Butler, J. W. Carr, R. M. Hill, L. J. Summers, M. D. Feit, A. Rubenchik, M. H. Key, P. J. Wegner, A. K. Burnham, L. A. Hackel, and M. R. Kozlowski, Proc. SPIE 4679, 23 (2002).
[7] R. M. Brusasco, B. M. Penetrante, J. A. Butler, and L. W. Hrubesh, Proc. SPIE 4679, 40 (2002).
[8] I. L. Bass, G. M. Guss, and R. P. Hackel, Proc. SPIE 5991, 59910C (2005).
[9] E. Mendez, K. M. Nowak, H. J. Baker, F. J. Villarreal, and D. R. Hall, Appl. Opt. 45, 5358 (2006).
[10] G. Guss, I. Bass, V. Draggoo, R. Hackel, S. Payne, M. J. Lancaster, and P. Mak, Proc. SPIE 6403, 64030M (2007).
[11] S. Palmier, L. Gallais, M. Commandr′e, P. Cormont, R. Courchinoux, L. Lamaign`ere, J. L. Rullier, and P. Legros, Appl. Surf. Sci. 255, 5532 (2009).
[12] S. T. Yang, M. J. Matthews, S. Elhadj, D. Cooke, G. M. Guss, V. G. Draggoo, and P. J. Wegner, Appl. Opt. 49, 2606 (2010).
[13] M. J. Matthews, I. L. Bass, G. M. Guss, C. C. Widmayer, and F. L. Ravizza, Proc. SPIE 6720, 67200A (2007).
[14] R. N. Raman, M. J. Matthews, J. J. Adams, and S. G. Demos, Opt. Express 18, 15207 (2010).
[15] M. A. Stevens-Kalceff and J. Wong, J. Appl. Phys. 97, 113519 (2005).
[16] P. Cormont, L. Gallais, L. Lamaign`ere, J. L. Rullier, P. Combis, and D. Hebert, Opt. Express 18, 26068 (2010).
[17] J. Yoshiyama, F. Y. G′enin, A. Salleo, I. Thomas, M. R. Kozlowski, L. M. Sheehan, I. D. Hutcheon, and D. W. Camp, Proc. SPIE 3244, 331 (1998).
[19] W. Dai, X. Xiang, Y. Jiang, H. J. Wang, X. B. Li, X. D. Yuan, W. G. Zheng, H. B. Lv, and X. T. Zu, Opt. Laser Eng. 49, 273 (2011).
[20] J. Huang, S. Zhao, H. Wang, H. L¨u, L. Ye, X. Jiang, X. Yuan, and W. Zheng, Chinese J. Lasers (in Chinese) 36, 1282 (2009).
[21] A. Salleo, R. Chinsio, and F. Y. G′enin, Proc. SPIE 3578, 456 (1999).
[22] M. A. Stevens-Kalceff, A. Stesmans, and J. Wong, Appl. Phys. Lett. 80, 758 (2002).
[23] S. Papernov and A. W. Schmid, Proc. SPIE 7132, 71321J (2008).
