[1] W. Uhmann, A. Becker, C. Taran, and F. Siebert, Appl. Spectrosc. 45, 390 (1991).

[2] G. V. Hartland, W. Xei, and H.-L. Dai, Rev. Sci. Instrum. 63, 3261 (1992).

[3] R. A. Palmer, J. L. Chao, R. M. Dittmar, V. G. Gregoriou, and S. E. Plunkett, Appl. Spectrosc. 47, 1297 (1993).

[4] K. Strong, T. J. Johnson, and G. W. Harris, Appl. Opt. 36, 8533 (1997).

[5] L. T. Letendre, H.-L. Dai, and I. A. Mclaren, Timothy J. Johnson, Rev. Sci. Instrum. 70, 18 (1999).

[6] J. Faist, F. Capasso, D. L. Sivco, C. Sirtori, A. L. Hutchinson, and A. Y. Cho, Science 264, 553 (1994).

[7] Y. G. Zhang, K. J. Nan, and A. Z. Li, Spectrochimica Acta Part A 58, 2323 (2002).

[8] J. Liu, X. Lu, Y. Guo, F. Liu, and Z. Wang, Chin. J. Semiconductors (in Chinese) 26, 624 (2005).

[9] H. Page, P. Kruck, S. baribieri, C. Sirtori, M. Stellmacher, and J. Nagle, Electron. Lett. 35, 1848 (1999).