[1] C. W. Tang, S. A. VanSlyke. Appl. Phys. Lett., 51, 913(1987).
[2] Y. Xu, J. Peng, J. Jiang, W. Xu, W. Yang, Y. Cao. Appl. Phys. Lett., 87, 193502(2005).
[4] C. H. Chen, F. I. Wu, C. F. Shu, C. H. Chien, Y. T. Tao. J. Mater. Chem., 14, 1585(2004).
[7] L. Wang, Z.-Y. Wu, C. H. Chen. Org. Electron., 12, 595(2011).
[8] J. H. Seo, K. H. Lee, Y. K. Kim. Org. Electron., 11, 1605(2010).
[9] S. R. Forrest. Org. Electron., 4, 45(2003).
[10] P. E. Burrows, S. R. Forrest, S. P. Sibley, M. E. Thompson. Appl. Phys. Lett., 69, 2959(1996).
[11] R. S. Deshpande, V. Bulovic, S. R. Forrest. Appl. Phys. Lett., 75, 888(1999).
[12] S. E. Shaheen, B. Kippelen, N. Peyghambarian. J. Appl. Phys., 85, 7939(1999).
[16] J. Littman, P. Martic. J. Appl. Phys., 72, 3610(1992).
[17] C. Hosokawa, H. Tokailin, H. Higashi, T. Kusumoto. Appl. Phys. Lett., 63, 1322(1993).
[18] Y.-H. Kim, W. Y. Kim, C.-B. Moon. J. Appl. Phys., 110, 034501(2011).
[20] S. C. Tse, H. H. Fong, S. K. So. J. Appl. Phys., 94, 2033(2003).