[1] Z. Liu, G. Yang, Y. Z. Lee, D. Bordelon, J. Lu, O. Zhou. Appl. Phys. Lett., 89, 103111(2006).
[2] A. Haga, S. Senda, Y. Sakai, Y. Mizuta, S. Kita, F. Okuyamaa. Appl. Phys. Lett., 84, 2208(2004).
[3] S. Senda, Y. Sakai, Y. Mizuta, S. Kita, F. Okuyamaa. Appl. Phys. Lett., 85, 5679(2004).
[5] Y.-H. Song, J.-W. Kim, J.-W. Jeong, J.-T. Kang, S. Choi, K. E. Choi, S.-J. Ahn. IEEE 25th International Vacuum Nanoelectronics Conference, 102(2012).
[6] J.-W. Jeong, J.-W. Kim, J.-T. Kang, S. Choi, S. Ahn, Y.-H. Song. Nanotechnol., 24, 085201(2013).
[7] S. H. Heo, A. Ihsan, S. O. Cho. Appl. Phys. Lett., 90, 183109(2007).
[9] Y. Cheng, J. Zhang, Y. Z. Lee, B. Gao, S. Dike. Rev. Sci. Instrum., 75, 3264(2004).
[10] G. Z. Yue, Q. Qiu, B. Gao, Y. Cheng, J. Zhang. Appl. Phys. Lett., 81, 355(2002).
[11] D. Ning-Qin, Z. Bao-Sheng, S. Li-Zhi. Acta Phys. Sin., 62, 060705(2013).
[12] M. Xiao-Fei, Z. Bao-Sheng, S. Li-Zhi, L. Yong-An, L. Duo, D. Ning-Qin. Acta Phys. Sin., 63, 160701(2014).
[13] S. Li-zhi, Z. Bao-sheng, L. Yong-an. Proc. SPIE, 9207, 920716(2015).
[14] S. M. Foreman, C. Kealhofer, G. E. Skulason, B. B. Klopfer, M. A. Kasevich. Ann. Phys., 525, 19(2013).
[17] U. Hinze, A. Egbert, B. Chichkov, K. Eidmann. Opt. Lett., 29, 2079(2004).