[1] B. Sartorius, C. Bornholdt, O. Brox, H. J. Ehrke, D. Hoffmann, R. Ludwig, and M. Mohrle, Electron. Lett. 34, 1664 (1998).
[2] K. Vlachos, G. Theophilopoulos, A. Hatziefremidis, and H. Avramopoulos, IEEE Photon. Technol. Lett. 12, 705 (2000).
[3] H. K. Lee, J. T. Ahn, M.-Y. Jeon, K. H. Kim, D. S. Lim, and C.-H. Lee, IEEE Photon. Technol. Lett. 11, 730 (1999).
[4] H. J. Lee, H. G. Kim, J. Y. Choi, and H. K. Lee, Electron. Lett. 35, 989 (1999).
[5] W. Mao, M. Al-Mumin, X. Wang, and G. Li, IEEE Photon. Technol. Lett. 13, 239 (2001).
[6] W. Mao, Y. Li, M. Al-Mumin, and G. Li, IEEE Photon. Technol. Lett. 14, 873 (2002).