[1] M. Zheng, L. Chen, X. Cai, G. Jin. Chin. Opt. Lett., 11, 071901(2013).
[2] S. Castelletto, I. P. Degiovanni, V. Schettini, A. Migdal. Metrology, 43, S56(2006).
[3] S. Odate, A. Yoshizawa, D. Fukuda, H. Tsuchida. Opt. Lett., 32, 3176(2007).
[5] J. Chen, A. J. Pearlaman, A. Ling, J. Fan, A. Migdall. Proc. SPIE, 7465, 74650L(2012).
[6] S. Haidar, T. Usami, J. Shikata. Opt. Eng., 42, 143(2003).
[7] C. Wei, C. C. Yang. Opt. Lett., 26, 14129(2001).
[8] L. Hongjun, Z. Wei, C. Guofu, W. Yishan, C. Zhao, R. Chi. App. Phys. B, 79, 569(2004).
[9] N. P. Barnes, V. J. Corcoran. Appl. Opt., 15, 696(1976).
[10] M. M. Fejer, G. A. Magel, D. H. Jundt, R. L. Byer. IEEE, 28, 2631(1992).
[11] D. Zhong. Chin. Opt. Lett., 12, S11901(2014).
[13] Y. Chen, X. Chen, Y. Xia, X. Zeng, Y. Chen. Proc. SPIE, 4581, 402(2001).
[14] G. Tamošauskas, J. Galinis, A. Dubietis, A. Piskarskas. Opt. Express, 18, 4310(2010).
[15] G. Brida, M. Genovese, C. Novero. Eur. Phys. J. D, 8, 273(2000).
[16] P. Kumbhakar, T. Kobayashi. Appl. Phys. B, 78, 165(2004).