[1] K. D. Joensen, F. E. Christensen, H. W. Schnopper, P. Gorenstein, J. Susini, P. Hoghoj, R. Hustache, J. Wood, and K. Parker, Proc. SPIE 1736, 239 (1992).
[2] K. Yamashita, P. J. Serlemitsos, J. Tueller, S. D. Barthelmy, L. M. Bartlett, K.-W. Chan, A. Furuzawa, N. Gehrels, K. Haga, H. Kunieda, P. Kurczynski, G. Lodha, N. Nakajo, N. Nakamura, Y. Namba, Y. Ogasaka, T. Okajima, D. Palmer, A. Parsons, Y. Soong, C. M. Stahl, H. Takata, K. Tamura, Y. Tawara, and B. Teegarden, Appl. Opt. 37, 8067 (1998).
[3] C. Morawe, E. Ziegler, J. C. Peffen, and I. V. Kozhevnikov, Nucl. Instr. Meth. A 493, 198 (2002).
[4] M. F. Silva and J. R. Nicholls, Surf. and Coat. Technol. 142-144, 934 (2001).
[5] T. Seino, Y. Kawakubo, K. Nalajima, and M. Kamei, Vacuum 51, 791 (1998).
[6] S. Hong, E. Kim, Z.-T. Jiang, B.-S. Bae, K. No, S.-G. Lim, S.-G. Woo, and Y.-B. Koh, Mater. Sci. Eng. B 45, 98 (1997).
[7] A. A. Fursenko, A. O. Galjukov, Y. N. Makarov, D. S. Lutovinov, and M. S. Ramm, J. Crystal Growth 148, 155 (1995).
[8] U. H. Kwon, S. H. Choi, Y. H. Park, and W. J. Lee, Thin Solid Films 475, 17 (2005).
[9] S. D. Ekpe, L. W. Bezuidenhout, and S. K. Dew, Thin Solid Films 474, 330 (2005).
[10] X. Q. Meng, X. J. Fan, and H. X. Guo, Thin Solid Films 335, 279 (1998).
[11] W.-J. Wu, Z.-S. Wang, Z. Zhang, H.-C. Wang, F.-L. Wang, S.-J. Qin, and L.-Y. Chen, Optical Technique (in Chinese) 31, 537 (2005).
[14] F.-L. Wang, Z.-S. Wang, Z. Zhang, W.-J. Wu, H.-C. Wang, S.-M. Zhang, S.-J. Qin, and L.-Y. Chen, Opt. Precision Eng. (in Chinese) 13, 28 (2005).
[15] W.-J. Wu, Z.-S. Wang, S.-J. Qin, F.-L. Wang, H.-C. Wang, Z. Zhang, L.-Y. Chen, X.-D. Xu, and S.-J. Fu, Opt. Precision Eng. (in Chinese) 12, 226 (2004).
