[1] P. Balling, M. Fischer, P. Kubina, and R. Holzwarth, Opt. Express 23, 9196 (2005).
[2] K. Nakagawa, Y. Sato, M. Musha, and K. Ueda, Appl. Phys. B 80, 479 (2005).
[3] V. Ahtee, M. Merimaa, and K. Nyholm, IEEE Trans. Instrum. Meas. 58, 1211 (2009).
[4] H. C. Chui, M. S. Ko, Y. W. Liu, T. Lin, J. T. Shy, S. Y. Shaw, R. V. Roussev, and M. M. Fejer, Opt. Lasers Eng. 44, 479 (2006).
[5] S. Masuda, A. Seki, and S. Niki, Appl. Opt. 46, 4780 (2007).
[6] J. Zhang, D. Wei, C. Xie, and K. Peng, Opt. Express 11, 1338 (2003).
[7] D. J. McCarron, S. A. King, and S. L. Cornish, Meas. Sci. Technol. 19, 105601 (2008).
[8] H. R. Noh, S. E. Park, L. Z. Li, J. D. Park, and C. H. Cho, Opt. Express 19, 23444 (2011).
[9] V. Negnevitsky and L. D. Turner, Opt. Express 21, 3103 (2013).
[10] H. Jiang, G. Li, and X. Xu, Opt. Express 17, 16073 (2009).
[11] K. R. Parameswaran, J. R. Kurz, R. V. Roussev, and M. M. Fejer, Opt. Lett. 27, 43 (2002).