[1] X. Q. Zhang, I. Suemune, H. Kumano, Z. G. Yao, and S. H. Huang, J. Lumin. 122—123, 828 (2007).

[2] J. Y. Lee, Y. S. Choi, J. H. Kim, M. O. Park, and S. Im, Thin Solid Films 403—404, 553 (2002).

[3] S. Liang, H. Sheng, Y. Liu, Z. Huo, Y. Lu, and H. Shen, J. Cryst. Growth 225, 110 (2001).

[4] A. Tsukazaki, A. Ohtomo, T. Onuma, M. Ohtani, T. Makino, M. Sumiya, K. Ohtani, S. F. Chichibu, S. Fuke, Y. Segawa, H. Ohno, H. Koinuma, and M. Kawasaki, Nature Mater. 4, 42 (2005).

[5] L. Jiang, S. Zhang, Y. Wang, Z. Sun, Z. Wang, J. Lin, W. Huang, Z. Xu, and R. Li, Chin. Opt. Lett. 1, 53 (2004).

[6] L. Zhou, P. Gu, and Y. Zhou, Chin. Opt. Lett. 6, 462 (2008).

[7] Z. Zhang, H. Yuan, Y. Gao, J. Wang, D. Liu, J. Shen, L. Liu, W. Zhou, S. Xie, X. Wang, X. Zhu, Y. Zhao, and L. Sun, Appl. Phys. Lett. 90, 153116 (2007).

[8] K. Haga, F. Katahira, and H. Watanabe, Thin Solid Films 343—344, 145 (1999).

[9] K. Ogata, T. Kawanishi, K. Maejima, K. Sakurai, S. Fujita, and S. Fujita, Jpn. J. Appl. Phys. 40, L657 (2001).

[10] C. X. Xu, X. W. Sun, Z. L. Dong, M. B. Yu, Y. Z. Xiong, and J. S. Chen, Appl. Phys. Lett. 86, 173110 (2005).

[11] M. Haupt, A. Ladenburger, R. Sauer, K. Thonke, R. Glass, W. Roos, J. P. Spatz, H. Rauscher, S. Riethmüller, and M. Muller, J. Appl. Phys. 93, 6252 (2003).

[12] K. Vanheusden, W. L. Warren, C. H. Seager, D. R. Tallant, J. A. Voigt, and R. F. Gnade, J. Appl. Phys. 79, 7983 (1996).