[1] J. G. Mutitu, S. Shi, C. Chen, T. Creazzo, A. Barnett, C. Hons-berg, and D. W. Prather, Opt. Express 16, 15238 (2008).

[2] R. G. Gordon, MRS Bull. 25, 52 (2000).

[3] Y. F. Chen, D. M. Bagnall, H. J. Koh, K. T. Park, K. Hiraga, Z. Q. Zhu, and T. Yao, J. Appl. Phys. 84, 3912 (1998).

[4] Y. Hu, Y. Q. Chen, Y. C. Wu, M. J. Wang, G. J. Fang, C. Q. He, and S. J. Wang, Appl. Surf. Sci. 255, 9279 (2009).

[5] J. L. Zhao, X. M. Li, J. M. Bian, W. D. Yu, and C. Y. Zhang, Thin Solid Films 515, 1763 (2006).

[6] K. H. Kim, K. C. Park, and D. Y. Ma, J. Appl. Phys. 81, 7764 (1997).

[7] A. Thankappan, S. Thomas, and V. P. N. Nampoori, Chin. Opt. Lett. 11, 101801(2013).

[8] C. R. Gorla, N. W. Emanetoglu, S. Liang, W. E. Mayo, Y. Lu, M. Wraback, and H. Shen, J. Appl. Phys. 85, 2595 (1999).

[9] E. Gur, S. Tuzemen, K. Meral, and Y. Onganer, Appl. Phys.A: Mater. Sci. Process. 94, 549 (2009).

[10] G. Z. Xing, B. Yao, C. X. Cong, T. Yang, Y. P. Xie, B. H. Li, and D. Z. Shen, J. Alloys Compd. 457, 36 (2008).

[11] G. J. J. Fang, D. J. Li, and B. L. Yao, Thin Solid Films 418, 156 (2002).

[12] R. G. S. Pala and H. Metiu, J. Phys. Chem. C 111, 12715 (2007).

[13] J. Yoo, J. Lee, S. Kim, K. Yoon, I. J. Park, S. K. Dhungel, B. Karunagaran, D. Mangalaraj, and J. S. Yi, Thin Solid Films 480, 213 (2005).

[14] C. Agashe, O. Kluth, G. Schope, H. Siekmann, J. Hupkes, and B. Rech, Thin Solid Films 442, 167 (2003).

[15] C. Yang, D. Wan, Z. Wang, and F. Huang, Chin. Opt. Lett. 9, 103102 (2011).

[16] D. Wan, F. Huang, Y. Wang, X. Mou, and F. Xu, ACS Appl. Mater. Interf. 2, 2147 (2010).

[17] J. Y. W. Seto, J. Appl. Phys. 46, 5247 (1975).

[18] R. Hong, J. Shao, H. He, and Z. Fan, Chin. Opt. Lett. 3, 428 (2005).

[19] J. F. Chang and M. H. Hon, Thin Solid Films 386, 79 (2001).

[20] F. R. Blom, F. C. M. Vandepol, G. Bauhuis, and T. J. A. -Popma, Thin Solid Films 204, 365 (1991).

[21] T. Minami, H. Sato, K. Ohashi, T. Tomofuji, and S. Takata, J. Cryst. Growth 117, 370 (1992).

[22] N. S. Choudhury , J. Electrochem. Soc. 120, 1663 (1973).

[23] T. K. Gupta, W. D. Straub, M. S. Ramanachalam, J. P. Schaffer, and A. Rohatgi, J. Appl. Phys. 66, 6132 (1989).

[24] R. Liu, Z. Xia, Y. Wu, H. Jiao, Z. Liang, and J. Zhou, Chin. Opt. Lett. 11, 120501 (2013).