[1] L. T. Canham, Appl. Phys. Lett. 57, 1046 (1990).

[2] L. Pavesi, R. Chierchia, P. Bellutti, A. Lui, F. Fuso, M. Labardi, L. Pardi, F. Sbrana, M. Allegrini, S. Trusso, C. Vasi, P. J. Ventura, L. C. Costa, M. C. Carmo, and O. Bisi, J. Appl. Phys. 86, 6474 (1999).

[3] H. Shinoda, T. Nakajima, K. Ueno, and N. Koshida, Nature 400, 853 (1999).

[4] R. C. Egeberg, E. Veje, A. Ferreira da Silva, I. Pepe, and A. Alves, J. Porous Matter 7, 173 (2000).

[5] A. Ferreira da Silva, R. R. Rosa, L. S. Roman, E. Veje, and I. Pepe, Solid State Commun. 113, 703 (2000).

[6] L. T. Canham, C. L. Reeves, A. Leni, M. R. Houlton, J. P. Newey, A. J. Simons, and T. I. Cox, Thin Solid Films 304, 297 (1997).

[7] L. Buckberry and S. C. Bayliss, Materials World 7, 213 (1999).

[8] M. Jayachandran, M. Paramasivam, K. R. Murali, D. C. Trivedi, and M. Raghavan, Mater. Phys. Mech. 41, 43 (2001).

[9] A. Bsiesy, Y. F. Nicolau, A. Ermolieff, F. Muller, and F. Gaspard, Thin Solid Films 255, 43 (1995).

[10] H. J. Li, J. C. Peng, S. Qu, Y. Yan, X. M. Xue, and C. J. Zhao, Chin. Phys. Lett. 19, 1013 (2002).

[11] C. Faivre and D. Bellet, J. Appl. Cryst. 32, 1134 (1999).