[1] M. F. Ravet, F. Bridou, X. Zhang-Song, A. Jerome, F. Delmotte, R. Mercier, M. Bougnet, P. Bouyries and J. P. Delaboudini Ere, Proc. SPIE 5250, 99 (2004).

[2] L. Gardner, J. Kohl, S. Cranmer, S. Fineschi, L. Golub, J. Raymond, P. L. Smith, L. Strachan, R. Howard, D. Moses, D. Socker, D. Wang, R. R. Fisher, J. Davila, C. St. Cyr, G. Noci, M. Romoli, G. Tondello, G. Naletto, P. Nicolosi, and L. Poletto, Proc. SPIE 3764, 134 (1999).

[3] M. Grigonis and E. J. Knystautas, Appl. Opt. 36, 2839 (1997).

[4] J.-C. Vial, X. Y. Song, P. Lemaire, A. Gabriel, J.-P. Delaboudiniere, K. Bocchialini, S. Koutchmy, P. Lamy, R. Mercier, M. F. Ravet, and F. Auchere, Proc. SPIE 4853, 479 (2003).

[5] D. L.Windt, S. Donguy, J. Seely, B. Kjornrattanawanich, E. M. Gullikson, C. C. Walton, L. Golub, and E. DeLuca, Proc. SPIE 5168, 1 (2004).

[6] N. Kaiser, S. Yulin, T. Feigl, N. Benoit, and A. Tunnermann, in Proceedings of Optical Interference Coatings, OSA Technical Digest FA2.

[7] J. Zhu, Z. Wang, Z. Zhang, F. Wang, H. Wang, W. Wu, S. Zhang, D. Xu, L. Chen, H. Zhou, T. Huo, M. Cui, and Y. Zhao, Appl. Opt. 47, C310 (2008).

[8] H. Takenaka, S. Ichimaru, T. Ohchi, and E. M. Gullikson, J. Electron Spectroscopy and Related Phenomena 144-147, 1047 (2005).

[9] T. Ejima, A. Yamazaki, T. Banse, K. Saito, Y. Kondo, S. Lchimaru, and H. Takenaka, Appl. Opt. 44, 5446 (2005).

[10] Z. Wang and Y. Ma, Opt. Technique (in Chinese) 27, 532 (2001).